Number of the records: 1

Charakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami

Title statement	Charakterizácia vlastností moderných polovodičových štruktúr a prvkov optickými metódami
Main entry-name	Dopirák, Andrej Z4 (Author) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
Another responsib.	Kováč, Jaroslav Z1 (Thesis advisor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
Translated title	Characterization of Modern Semiconductor Structures and Devices Properties Using Optical Methods
Issue data	2019
Phys.des.	68 s., CD-ROM
Subj. Headings	SERS
	Optické metódy charakterizácie
	Ramanovský rozptyl
	Ramanovské čiary
	Spektrometria
	Spektrum
	Polovodič
	Optical methods of characterization
	Raman scattering
	Raman lines
	Spectrometry
	Spectrum
	Semiconductor
	SERS
Country	Slovakia
Language	Slovak
Copy count	1, currently available 0, at library only 1
Document kind	DDP - diplomová práca

citace PRO

Number of the records: 1