Number of the records: 1
Meranie a analýza vlastností organických poľom riadených tranzistorov
SYS stu254877 LBL 00000ntm--22000003a-4500 005 20150709141052.3 008 120927s2012----xo------------------slo-d 040 $a STU $b slo 041 0-
$a slo 044 $a xo 100 1-
$a Makara, Marián, $d 1985- $4 aut $u E $7 stu_us_auth*stu120099 $T FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $X 12059 $U E $Y 30 242 00
$a measurement and analysis of organic field-effect transistors properties $y eng 245 1-
$a Meranie a analýza vlastností organických poľom riadených tranzistorov 260 $a Bratislava : $b STU v Bratislave FEI, $c 2012 300 $a 58 s 650 -7
$a Microelectronics $2 estusub $7 stu_us_auth*stus30889 650 -7
$a thin films $2 estusub $7 stu_us_auth*stus39688 650 -7
$a tenké vrstvy $2 stusub $7 stu_us_auth*stus32 650 -7
$a organické polovodiče $2 stusub $7 stu_us_auth*stus1065 700 1-
$a Kováč, Jaroslav, $d 1947- $4 ths $u E030 $7 stu_us_auth*stu9825 $U FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky $T FEI Ústav elektroniky a fotoniky $X 2102 $U E030 $Y 549 856 4-
$a info a plný text $u http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=71669 $3 VAIS
Number of the records: 1