Number of the records: 1  

Meranie a analýza vlastností organických poľom riadených tranzistorov

  1. Microelectronics. thin films. tenké vrstvy. organické polovodičeMakara, Marián, 1985- Meranie a analýza vlastností organických poľom riadených tranzistorov. -- Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2012. -- 58 s. Kováč, Jaroslav, 1947-

Number of the records: 1  

  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.