1. Characterization of monolithic InAlN/GaN NAND and NOR logic gates supported by circuit and device simulations
Title information : Characterization of monolithic InAlN/GaN NAND and NOR logic gates supported by circuit and device simulations / aut. Aleš Chvála
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Document kind : článok zo zborníka
Category : BEE - Scientific works in not noticed year-books from international undertakings, foreign year-books
Category (from 2022) : O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka