Title information : DLTFS study of power GaN HEMTs before and after applied electrical stress / aut. Matej Matuš, Jozef Kozárik, Michal Minárik, Juraj Marek, Ľubica Stuchlíková Variant heading : \q12*stu_us_auth*1 0047581 \q \q1013 stu_us_auth*0047581 \d Matuš Matej \q ; 033000  %continue : \q12*stu_us_auth*1 0011657 \q \q1013 stu_us_auth*0011657 \d Kozárik Jozef \q ; 033000 \q12*stu_us_auth*1 0033072 \q \q1013 stu_us_auth*0033072 \d Minárik Michal \q ; 033000 \q12*stu_us_auth*1 stu65038 \q \q1013 stu_us_auth*stu65038 \d Marek Juraj \q ; 033000 \q12*stu_us_auth*1 stu35674 \q \q1013 stu_us_auth*stu35674 \d Stuchlíková Ľubica \q ; 033000 In : \q12**1 0116168 \q %continue : ADEPT 2025 : %continue : . S. 201-204 Subject : \q12*stu_us_auth*1 0128587 \q \q1013 stu_us_auth*0128587 \d e-mode GaN HEMT \q \q12*stu_us_auth*1 0091615 \q \q1013 stu_us_auth*0091615 \d electrical stress \q \q12*stu_us_auth*1 0017157 \q \q1013 stu_us_auth*0017157 \d DLTFS \q \q12*stu_us_auth*1 0128588 \q \q1013 stu_us_auth*0128588 \d nitrogen point defects \q Document kind : článok zo zborníka Category : AFD - Reports at home scientific conferences Category (from 2022) : V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka