Role of interlayers in MOS structures on interface states characterization / aut. Peter Bury, Š Hardoň, Ladislav Harmatha, I Jamnický
Bury Peter  Hardoň Š. Harmatha Ladislav ; 033000 Jamnický I.
ADEPT 2015 : . S. 177-181
acoustic spectroscopy MOS structures gate dielectrics interfacial layer
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka