Search results

Records found: 59  
Your query: Author Sysno = "^stu_us_auth 0016298^"
  1. Vývoj edukačnej hry „Popularizácia Elektroniky“
    Kotulič Marek ; 035000  Drobný Jakub ; 033000 (Thesis advisor)
    Bratislava : STU v Bratislave FEI, 59 s.
    FEI ; 01.07.2020 ; informatika ; B-API

    https://opac.crzp.sk/?fn=ResultFormChild0001C56D&seo=CRZP-Zoznam-z%C3%A1znamov
    bakalárska práca
    book

    book

  2. Investigation of electrically active defects in quasi-vertical GaN devices for high power applications / aut. Matej Matuš, Juraj Marek, Jakub Drobný, Karen Geens, Matteo Borga, Hu Liang, Stefaan Decoutere, Herwig Hahn, M Heuken, Ľubica Stuchlíková
    Matuš Matej  Marek Juraj ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 Geens Karen Borga Matteo Liang Hu Decoutere Stefaan Hahn Herwig Heuken M. Stuchlíková Ľubica ; 033000
    ADEPT 2022 : . S. 63-66
    quasi-vertical MOSFET GaN electrically active defects DLTFS
    článok zo zborníka
    AFD - Reports at home scientific conferences
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    article

    article

  3. Characterization and evaluation of current transport properties of power SiC Schottky diode / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Jakub Drobný, Ľubica Stuchlíková, Angelo Alberto Messina, Vincenzo Vinciguerra, Daniel Donoval
    Chvála Aleš ; 033000  Marek Juraj ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000 Messina Angelo Alberto Vinciguerra Vincenzo Donoval Daniel ; 033000
    11th Solid State Surfaces and Interfaces conference : . S. 285-288
    Power SiC Schottky diode Schottky barrier height Tunneling current FEM simulation
    https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2214785321045168
    článok zo zborníka
    AFC - Reports at international scientific conferences
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    article

    article

  4. Analysis of emission and capture processes in GaAsN p-i-n solar cell / aut. Arpád Kósa, Wojciech Dawidowski, Jakub Drobný, Matej Matuš, Peter Benko, Damian Radziewicz, Beata Ściana, Ľubica Stuchlíková
    Kósa Arpád ; 033000  Dawidowski Wojciech Drobný Jakub ; 033000 Matuš Matej Benko Peter ; 033000 Radziewicz Damian Ściana Beata Stuchlíková Ľubica ; 033000
    ADEPT 2022 : . S. 254-257
    GaAsN DLTFS emission and capture processes
    článok zo zborníka
    AFD - Reports at home scientific conferences
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    article

    article

  5. The influence of electrical stress on the distribution of electrically active defects in IGBT / aut. Jakub Drobný, Juraj Marek, Aleš Chvála, Jan Faraga, Martin Jagelka, Ľubica Stuchlíková
    Drobný Jakub ; 033000  Marek Juraj ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Faraga Jan ; 030000 Jagelka Martin ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
    ISPS '21 : . S. 87-93
    IGBT Deep energy levels electrically active defects the impact of electrical stress Deep Level Transient Fourier Spectroscopy
    článok zo zborníka
    AFC - Reports at international scientific conferences
    article

    article

  6. Electrically active defects in SiC planar power MOSFET / aut. Jakub Drobný, Juraj Marek, Matej Matúš, Aleš Chvála, Angelo Alberto Messina, Vincenzo Vinciguerra, Ľubica Stuchlíková
    Drobný Jakub ; 033000  Marek Juraj ; 033000 Matuš Matej Chvála Aleš ; 033000 Messina Angelo Alberto Vinciguerra Vincenzo Stuchlíková Ľubica ; 033000
    SURFINT - SREN VII : . S. 12-13
    článok zo zborníka
    AFG - Abstractions of scientific titles in year-books from international conferences
    article

    article

  7. How does nitrogen incorporate into GaAsN epitaxial layers? / aut. Wojciech Dawidowski, Beata Ściana, J Jadczak, A Łozińska, V Manuel, M. C López-Escalante, M Gabás, Arpád Kósa, Jakub Drobný, Ľubica Stuchlíková, Damian Radziewicz
    Dawidowski Wojciech  Ściana Beata Jadczak J. Łozińska A. Manuel V. López-Escalante M. C. Gabás M. Kósa Arpád ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000 Radziewicz Damian
    ADEPT 2021 : . S. 59-62
    Dilute nitrides GaAsN nitrogen interstitial defects HRXRD XPS DLTFS Raman spectroscopy
    článok zo zborníka
    AFD - Reports at home scientific conferences
    article

    article

  8. Study of semi-vertical GaN-on-Si FETs by DLTFS with optical excitation / aut. Jakub Drobný, Miloš Matúš, Juraj Marek, Aleš Chvála, Karen Geens, Matteo Borga, Hu Liang, Shuzhen You, Stefaan Decoutere, Ľubica Stuchlíková
    Drobný Jakub ; 033000  Matuš Matej Marek Juraj ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Geens Karen Borga Matteo Liang Hu You Shuzhen Decoutere Stefaan Stuchlíková Ľubica ; 033000
    ADEPT 2021 : . S. 183-186
    Trench MOSFET GaN DLTFS emission and capture processes
    článok zo zborníka
    AFD - Reports at home scientific conferences
    article

    article

  9. Analysis of current transport mechanism in AP-MOVPE grown GaAsN p-i-n solar cell / aut. Wojciech Dawidowski, Beata Sciana, Katarzyna Bielak, Miroslav Mikolášek, Jakub Drobný, Jarosław Serafińczuk, Iván Lombardero, Damian Radziewicz, Wojciech Kijaszek, Arpád Kósa, Martin Florovič, Jaroslav jr Kováč, Carlos Algora, Ľubica Stuchlíková
    Dawidowski Wojciech  Sciana Beata Bielak Katarzyna Mikolášek Miroslav ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 Serafińczuk Jarosław Lombardero Iván Radziewicz Damian Kijaszek Wojciech Kósa Arpád ; 033000 Florovič Martin ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Algora Carlos Stuchlíková Ľubica ; 033000
    Energies . Vol. 14, Iss. 15 (2021), Art. no. 4651 [18] s.
    solar cell Dilute nitrides GaAsN reciprocal lattice maps J-V-T measurements carrier transport mechanism recombination thermionic field emission DLTS spectroscopy defects nitrogen interstitial
    https://www.mdpi.com/1996-1073/14/15/4651
    článok z periodika
    ADC - Scientific titles in foreign carented magazines and noticed year-books
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    article

    article

  10. Investigation of emission and capture processes in Si IGBT / aut. Jakub Drobný, Matej Matúš, Juraj Marek, Aleš Chvála, Jozef Kozárik, Ľubica Stuchlíková
    Drobný Jakub ; 033000  Matuš Matej Marek Juraj ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
    ADEPT 2021 : . S. 87-90
    IGBT emission and capture processes Deep energy levels DLTS
    článok z periodika
    AFD - Reports at home scientific conferences
    article

    article