Search results

Records found: 5  
Your query: Author Sysno = "^stu_us_auth 0023854^"
  1. Reliability improvement of electrically active defect investigations by analytical and experimental deep level transient: Fourier spectroscopy investigations / aut. Arpád Kósa, Beata Sciana, Ľubica Stuchlíková
    Kósa Arpád ; 033000  Sciana Beata Stuchlíková Ľubica ; 033000
    Journal of Electrical Engineering : . Vol. 70, No. 7s (2019), s. 27-35
    Deep Level Transient Fourier Spectroscopy arrhenius data analysis electrically active defects GaAs p-i-n deep energy level
    http://iris.elf.stuba.sk/JEEEC/data/pdf/7s_119-03.pdf
    článok z periodika
    AFD - Reports at home scientific conferences
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    article

    article

  2. DLTS study of InGaAs and GaAsN structures with different indium and nitrogen compositions / aut. Arpád Kósa, Ľubica Stuchlíková, Ladislav Harmatha, Jaroslav Kováč, Beata Sciana, Wojciech Dawidowski, Marek Tlaczala
    Kósa Arpád ; 033000  Stuchlíková Ľubica ; 033000 Harmatha Ladislav ; 033000 Kováč Jaroslav ; 033000 Sciana Beata Dawidowski Wojciech Tlaczala Marek
    Materials Science in Semiconductor Processing . Vol. 74, (2018), s. 313-318
    semiconductor structure composition deep energy level Deep Level Transient Spectroscopy InGaAs GaAsN AP-MOVPE
    https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S1369800117310685
    článok z periodika
    ADC - Scientific titles in foreign carented magazines and noticed year-books
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    article

    article

  3. DLTFS study of defect distribution in AlGaN/GaN structures / aut. Ľubica Stuchlíková, Ondrej Pohorelec, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Peter Benko, Martin Florovič, Jaroslav Kováč, Sylvain Laurent Delage
    Stuchlíková Ľubica ; 033000  Pohorelec Ondrej ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Florovič Martin ; 033000 Kováč Jaroslav ; 033000 Delage Sylvain Laurent
    ADEPT 2018 : . S. 228-231
    DLTFS AlGaN/GaN heterostructure deep energy level Activation energy
    článok zo zborníka
    AFD - Reports at home scientific conferences
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    article

    article

  4. Investigation of emission and capture processes in AlGaN/GaN heterostructures / aut. Ľubica Stuchlíková, Ondrej Pohorelec, Arpád Kósa, S. L Delage, Jaroslav Kováč
    Stuchlíková Ľubica ; 033000  Pohorelec Ondrej ; 030000 Kósa Arpád ; 033000 Delage Sylvain Laurent Kováč Jaroslav ; 033000
    ADEPT 2017 : . S. 32-35
    Deep Level Transient Fourier Spectroscopy AlGaN/GaN heterostructure deep energy level Activation energy
    článok zo zborníka
    AFD - Reports at home scientific conferences
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    article

    article

  5. DLTS study of defects in SiC based devices / aut. Ľubica Stuchlíková, Ondrej Pohorelec, Richard Ravasz, Arpád Kósa, Peter Benko, Jaroslav Kováč, Sylvain Laurent Delage
    Stuchlíková Ľubica ; 033000  Pohorelec Ondrej ; 030000 Ravasz Richard Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav ; 033000 Delage Sylvain Laurent
    International workshop on devices and applications project : . S. 38-40
    DLTS deep energy level defect state
    článok zo zborníka
    BEF - Scientific works in not noticed year-books from home undertakings, home year-books
    O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka
    article

    article



  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.