Search results
- Investigation of emission and capture processes in Si IGBT / aut. Jakub Drobný, Matej Matúš, Juraj Marek, Aleš Chvála, Jozef Kozárik, Ľubica Stuchlíková
Drobný Jakub ; 033000 Matuš Matej ; 030000 Marek Juraj ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
ADEPT 2021 : . S. 87-90
IGBT emission and capture processes Deep energy levels DLTS
článok z periodika
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
article
- The influence of electrical stress on the distribution of electrically active defects in IGBT / aut. Jakub Drobný, Juraj Marek, Aleš Chvála, Jan Faraga, Martin Jagelka, Ľubica Stuchlíková
Drobný Jakub ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Faraga Jan ; 030000 Jagelka Martin ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
ISPS '21 : . S. 87-93
IGBT Deep energy levels electrically active defects the impact of electrical stress Deep Level Transient Fourier Spectroscopy
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Composition related electrical active defect states of InGaAs and GaAsN / aut. Arpád Kósa, Ľubica Stuchlíková, Ladislav Harmatha, Jaroslav Kováč, Beata Sciana, Wojciech Dawidowski, Marek Tlaczala
Kósa Arpád ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000 Harmatha Ladislav ; 033000 Kováč Jaroslav ; 033000 Sciana Beata Dawidowski Wojciech Tlaczala Marek
Advances in Electrical and Electronic Engineering : . Vol. 15, No. 1 (2017), s. 114-119
Deep energy levels Deep Level Transient Fourier Spectroscopy electrically active defects GaAsN Indium InGaAs nitrogen
http://advances.utc.sk/index.php/AEEE/article/view/2023
článok z periodika
ADM - 13/NOVÉ Vedecké práce v zahraničných časopisoch registrovaných v databázach Web of Science alebo SCOPUS
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisuarticle