Search results
- Effect of electron irradiation on spectroscopic properties of schottky barrier CdTe semiconductor detectors / aut. Katarína Sedlačková, Bohumír Zaťko, Andrea Šagátová, Vladimír Nečas
Sedlačková Katarína ; 036000 Zaťko Bohumír Šagátová Andrea ; 036000 Nečas Vladimír ; 036000
High-Z materials for X-ray detection : . S. 207-225
Semiconductor detectors Cadmium telluride electron irradiation radiation damage Polarization effect
https://link.springer.com/chapter/10.1007/978-3-031-20955-0_11
kapitola(článok) z dokumentu
AEC - Scientific titles in foreign noticed scientific year-books (not conference)
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
article
- Polarization effect of Schottky-barrier CdTe semiconductor detectors after electron irradiation / aut. Katarína Sedlačková, Bohumír Zaťko, Andrea Šagátová, Vladimír Nečas
Sedlačková Katarína ; 036000 Zaťko Bohumír Šagátová Andrea ; 036000 Nečas Vladimír ; 036000
Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section A : . Vol. 1027, (2022), Art. no. 166282 [7] s.
Semiconductor detectors Cadmium telluride electron irradiation radiation damage Polarization effect
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0168900221011104
článok z periodika
ADC - Scientific titles in foreign carented magazines and noticed year-books
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisuarticle
- Effects of electron irradiation on spectrometric properties of Schottky barrier CdTe radiation detectors / aut. Katarína Sedlačková, Bohumír Zaťko, Márius Pavlovič, Andrea Šagátová, Vladimír Nečas
Sedlačková Katarína ; 036000 Zaťko Bohumír Pavlovič Márius ; 036000 Šagátová Andrea ; 036000 Nečas Vladimír ; 036000
CRETE 2019 : . Art. no. 2060017 [10] s.
Semiconductor detectors CdTe detectors electron irradiation radiation hardness radiation damage
https://www.worldscientific.com/doi/epdf/10.1142/S2010194520600174
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Comparison of semi-insulating GaAs and 4H-SiC-based semiconductor detectors covered by LiF film for thermal neutron detection / aut. Katarína Sedlačková, Bohumír Zaťko, Andrea Šagátová, Vladimír Nečas, Pavol Boháček, Mária Sekáčová
Sedlačková Katarína ; 036000 Zaťko Bohumír Šagátová Andrea ; 036000 Nečas Vladimír ; 036000 Boháček Pavol Sekáčová Mária
Applied Surface Science . Vol. 461, (2018), s. 242-248
Semiconductor detectors GaAs detectors SiC detectors thermal neutrons MCNPX simulation
https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0169433218314223
článok z periodika
ADC - Scientific titles in foreign carented magazines and noticed year-books
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisuarticle