Search results
- Identification of electrically stressed regions in AlGaN/GaN-on-Si Schottky barrier diode using EBIC technique / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Aleš Chvála, Steve Stoffels, Brice De Jaeger, Stefaan Decoutere
Priesol Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Stoffels Steve De Jaeger Brice Decoutere Stefaan
IEEE Transactions on Electron Devices . Vol. 68, No. 1 (2021), s. 216-221
AlGaN/GaN electric field electrical stress EBIC Focused Ion Beam Scanning electron microscopy Schottky diode TCAD simulation
https://ieeexplore.ieee.org/document/9288930
článok z periodika
ADC - Scientific titles in foreign carented magazines and noticed year-books
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
article
- Low-leakage ESD structures in 130nm CMOS technology / aut. Lukáš Nagy, Aleš Chvála, Viera Stopjaková
Nagy Lukáš ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Stopjaková Viera ; 033000
Radioelektronika 2020 : . S. 177-180
low-power Low-Voltage Negative Voltage ESD TCAD simulation ESD VerilogA Model
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Performance analysis of ESD structures in 130 nm CMOS technology for low-power applications / aut. Lukáš Nagy, Aleš Chvála, Juraj Marek, Miroslav Potočný, Viera Stopjaková
Nagy Lukáš ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Potočný Miroslav ; 033000 Stopjaková Viera ; 033000
Radioelektronika 2019 : . S. 28-33
ESD structure low voltage low power TCAD simulation VerilogA model
https://ieeexplore.ieee.org/document/8733421
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle