Search results
- Skúmanie emisných a záchytných procesov v InAlGaN/GaN HEMT štruktúrach spektroskopiou hlbokých hladín
Vadovský Jakub ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000 (Thesis advisor)
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2021
FEI ; 08.06.2021 ; elektrotechnika ; I-EN . - 70 s.
https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=2DF2AC71C78DA39E9DFAB2873752&seo=CRZP-detail-kniha
diplomová práca
book
- DLTS Study of Electrically Active Defects in InAlGaN/GaN HEMT Structures for 5G / aut. Jakub Vadovský, Arpád Kósa, Matúš M, Jakub Drobný, Peter Benko, Jaroslav jr Kováč
Vadovský Jakub ; 030000 Kósa Arpád ; 033000 Matuš Matej ; 030000 Drobný Jakub ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Delage Sylvain Laurent Stuchlíková Ľubica ; 033000
Solid State Surfaces and Interfaces : . S. 103-104
článok zo zborníka
AFH - Abstractions of scientific titles in year-books from home conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
article
- DLTS study of electrically active defects in semi-vertical GaN-on-Si FETs / aut. Jakub Drobný, Juraj Marek, Arpád Kósa, Jakub Vadovský, K Geens, M Borga, H Liang, S You, Stefaan Decoutere, Ľubica Stuchlíková
Drobný Jakub ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Vadovský Jakub ; 030000 Geens Karen Borga Matteo Liang Hu You Shuzhen Decoutere Stefaan Stuchlíková Ľubica ; 033000
Solid State Surfaces and Interfaces : . S. 25-26
článok zo zborníka
AFH - Abstractions of scientific titles in year-books from home conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Investigation of electrically active defects in InAlGaN/GaN/SiC HEMT / aut. Jakub Vadovský, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Peter Benko, Jaroslav Kováč, Sylvain Laurent Delage, Ľubica Stuchlíková
Vadovský Jakub ; 030000 Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Delage Sylvain Laurent Stuchlíková Ľubica ; 033000
ADEPT 2020 : . S. 179-182
HEMT DLTFS InAlGaN GTML FAT Schottky barrier
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- DLTS study of emission and capture processes in InAlGaN/GaN HEMT structures for 5G / aut. Michal Matúš, Jakub Drobný, Jakub Vadovský, Arpád Kósa, Peter Benko, Jaroslav jr Kováč, Sylvain Laurent Delage, Ľubica Stuchlíková
Matuš Matej ; 030000 Drobný Jakub ; 033000 Vadovský Jakub ; 030000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Delage Sylvain Laurent Stuchlíková Ľubica ; 033000
ASDAM 2020 : . S. 119-122
https://ieeexplore.ieee.org/document/9393839
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Skúmanie kvality polovodičových štruktúr na báze InAlGaN/GaN
Vadovský Jakub ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000 (Thesis advisor)
2019
FEI ; 02.07.2019 ; 5.2.13. elektronika ; B-ELN . - 40 s., CD-ROM
http://is.stuba.sk/zp/portal_zp.pl?podrobnosti=135351
bakalárska prácaFaculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 0 1 0 0 book
- Defect analysis of InAlGaN/GaN/SiC HEMT heterostructures / aut. Ľubica Stuchlíková, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Jakub Vadovský, Peter Benko, Aurel Škoda, Sylvain Laurent Delage, Jaroslav jr Kováč
Stuchlíková Ľubica ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Vadovský Jakub ; 030000 Benko Peter ; 033000 Škoda Aurel Delage Sylvain Laurent Kováč Jaroslav jr. ; 033000
WOCSDICE 2019 : . [2] s.
článok zo zborníka
BEE - Scientific works in not noticed year-books from international undertakings, foreign year-books
O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníkaarticle