Measurement of the reverse recovery characteristics of p-n junction diodes by TDT and TDR methods / aut. Martin Vilhan, Alexander Šatka, Juraj Priesol
Vilhan Martin ; 034000  Šatka Alexander ; 033000 Priesol Juraj ; 033000
ADEPT 2019 : . S. 251-254
time domain reflectometry time domain transmission diode reverse recovery time minority carrier lifetime
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka