Search results
- Structural analysis of sputtered Sc(x)Al(1-x)N layers for sensor / aut. Bernd Hähnlein, Tim Hofmann, Katja Tonisch, Jörg Pezoldt, Jaroslav jr Kováč, Stefan Krischok
Hähnlein Bernd Hofmann Tim Tonisch Katja Pezoldt Jörg Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Krischok Stefan
Materials Science and Smart Materials : . S. 13-18
scandium aluminum nitride XPS XRD FTIR Raman magnetoelectric sensor
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka