Search results
- SiC Power TrenchMOS Transistor under harsh repetitive switching conditions / aut. Juraj Marek, Michal Minárik, Matej Matuš, Jozef Kozárik, Ľubica Stuchlíková
Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Matuš Matej ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
EPE´23 ECCE Europe : . [8] s.
charge trap states reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive UIS repetitive short circuit
https://ieeexplore.ieee.org/document/10264402
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
article
- Analysis of 15 A–1200 V class IGBTs under repeitive SC conditions / aut. Juraj Marek, Michal Minárik, Jozef Kozárik, Martin Jagelka
Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Jagelka Martin ; 033000
ADEPT 2022 : . S. 205-208
reliability degradation IGBT repetitive short circuit
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Degradation of 600V GaN HEMT with p-GaN gate under repetitive short circuit stress / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Krisztián Gašparek, Miroslav Jagelka, Martin Donoval
Kozárik Jozef ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Gašparek Krisztián ; 033000 Jagelka Martin ; 033000 Donoval Martin ; 030690
ADEPT 2021 : . S. 219-222
GaN HEMT repetitive short circuit DLTS degradation
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Degradation of power SiC MOSFET under repetitive UIS and short circuit stress / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Michal Minárik, Ľubica Stuchlíková
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
ISPS '21 : . S. 70-75
reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive unclamped inductive switching repetitive short circuit
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Degradation of 600V GaN HEMTs under repetitive short circuit conditions / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Michal Minárik, Aleš Chvála, Tomáš Debnár, Martin Donoval, Ľubica Stuchlíková
Kozárik Jozef ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Debnár Tomáš ; 033000 Donoval Martin ; 030690 Stuchlíková Ľubica ; 033000
ISPS '21 : . S. 76-81
GaN HEMT repetitive short circuit DLTS degradation
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Power SiC MOSFET under repetitive UIS and short circuit stress / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Michal Minárik, Martin Donoval
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Donoval Martin ; 030690
ADEPT 2021 : . S. 67-70
reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive UIS repetitive short circuit
článok z periodika
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle