Search results
- Simulation of electrical properties and reliability of power IGBT module / aut. František Kovaľ, Aleš Chvála
Kovaľ František ; 030000 Chvála Aleš ; 033000
ADEPT 2022 : . S. 73-76
IGBT module reliability simulation
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
article
- Electro-thermal simulation analysis and optimization of power IGBT under uis test condition / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Patrik Príbytný, Daniel Donoval
Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Príbytný Patrik ; 033000 Donoval Daniel ; 033000
ADEPT 2022 : . S. 141-144
electro-thermal simulation power IGBT clip-bond wire-bond
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Thermo-mechanical simulation study of power transistor embedded in PCB / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Alexander Šatka
Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000
ADEPT 2022 : . S. 157-160
thermo-mechanical simulation embedded power transistor printed circuit board
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Measurement of dynamic on-resistance of packaged and unpackaged GaN HEMTs and effect of repetitive short-circuit stress / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Michal Minárik, Aleš Chvála, Krisztián Gašparek, Martin Donoval
Kozárik Jozef ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Gašparek Krisztián ; 033000 Donoval Martin ; 030690
ADEPT 2022 : . S. 161-164
GaN HEMT dynamic on-resistance on-die testing repetitive short-circuit
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Electro-thermal characterizations, compact modeling and tcad based device simulations of power electronics modules / aut. Patrik Príbytný, Aleš Chvála, Juraj Marek, Daniel Donoval
Príbytný Patrik ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Donoval Daniel ; 033000
ADEPT 2022 : . S. 165-168
3-D numerical modeling and simulation thermal management power and heat dissipation
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Thermal resistance utilization as a key parameter for HEMT average temperature determination / aut. Martin Florovič, Jaroslav jr Kováč, Jaroslav Kováč, Aleš Chvála, Jean-Claude Jacquet, Sylvain Laurent Delage
Florovič Martin ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000 Kováč Jaroslav ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Jacquet Jean-Claude Delage Sylvain Laurent
ADEPT 2022 : . S. 246-249
HEMT AlGaN/GaN I-V characteristics thermal resistance channel temperature
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- CAE elektronických prvkov : 2/3-D numerické simulácie - Návody na cvičenia / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Daniel Donoval; rec. Milan Ťapajna, Martin Weis elektronický zdroj
Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Donoval Daniel ; 033000 Ťapajna Milan (rec.) Weis Martin ; 033000 (rec.)
1. vyd.
Bratislava : Spektrum STU, 2022 . - CD-ROM, 68 s.
ISBN 978-80-227-5183-4
elektronický textový údaj
BCI - Scripts and school texts (lectures)
P1 - Pedagogický výstup publikačnej činnosti ako celokFaculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 1 1 0 0 
book
- 3-D device electro-thermal simulation methodology for optimization of SiC power MOSFET under UIS test condition / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Jozef Kozárik, Angelo Alberto Messina, Vincenzo Vinciguerra, Daniel Donoval
Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Messina Angelo Alberto Vinciguerra Vincenzo Donoval Daniel ; 033000
ICSCRM 2022 : . S. 197-198
článok zo zborníka
BFA - Abstrakty odborných prác zo zahraničných podujatí (konferencie...)
O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníkaarticle
- EBIC analysis of semi-insulating GaN/Si-doped GaN-on-GaN test structures for vertical GaN transistors / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Aleš Chvála, Peter Šichman, Stanislav Hasenöhrl, Ján Kuzmík, František Uherek
Priesol Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Šichman Peter Hasenöhrl Stanislav Kuzmík Ján Uherek František ; 033000
WOCSDICE‐EXMATEC 2022 : . S. OP 94-95
článok zo zborníka
BEE - Scientific works in not noticed year-books from international undertakings, foreign year-books
O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníkaarticle
- Electro-thermal simulation analysis and optimization of SiC Power MOSFET under UIS test condition / aut. Aleš Chvála, Juraj Marek, Jozef Kozárik, Angelo Alberto Messina, Vincenzo Vinciguerra, Daniel Donoval
Chvála Aleš ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Messina Angelo Alberto Vinciguerra Vincenzo Donoval Daniel ; 033000
WOCSDICE‐EXMATEC 2022 : . S. OP102-OP103
článok zo zborníka
BEE - Scientific works in not noticed year-books from international undertakings, foreign year-books
O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníkaarticle