Search results
- DefSim: A remote Laboratory for Studying Physical Defects in CMOS Digital Circuits
Pleskacz W.A. Stopjaková Viera ; E030 Borejko T. Jutman A.
IEEE Transactions on Industrial Electronics . Vol. 55, No. 6 (2008), s.2405-2415
článok z periodika
ADC - Scientific titles in foreign carented magazines and noticed year-books
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
article
- CMOS Defects Analysis Using DefSim Measurement Environment
Pleskacz W.A. Borejko T. Walkanis A. Stopjaková Viera ; E030 Jutman A. Ubar Raimund
ETS '06 : . s.241-246
článok z periodika
AFC - Reports at international scientific conferences
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisuarticle
- DefSim: CMOS Defects on Chip for Research and Education
Pleskacz W.A. Borejko T. Walkanis A. Stopjaková Viera ; E030 Jutman A. Ubar Raimund
7th IEEE Latin American Test Workshop : . s.74-79
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- DefSim-Based Exercises for Studying in CMOS Gates
Jutman A. Pleskacz W.A. Ubar Raimund
EWME 2006. Proceedings. 6th European Workshop on Microelectronics Education : . s.23-26
článok zo zborníka
(2) - článokarticle
- DefSim: Measurement environment for CMOS defects
Borejko T. Jutman A. Pleskacz W.A. Ubar Raimund
International Conference on Microelectronics. IMC 2006 : . s.679-682
článok zo zborníkaarticle
- A tool for advanced learning of LFSR-based testing principles
Jutman A. Tsertov A. Ubar R.
BEC 2006 [elektronický zdroj] : . s.175-178
článok zo zborníka
(1) - článokarticle
- E-learining tools for teaching self-test of digital electronics
Jutman A. Gramatová Elena ; I100 Pikula Tomáš Ubar R.
EAEEIE 2004 : . s.122-126
článok zo zborníkaarticle