Search results
- Measurement of the Electric Breakdown of MOS Structures with Thin High-k Dielectric Layers
Valent Peter ; E210 Valkay Gabriel ; E Harmatha Ladislav ; E030 Písečný Pavol Racko Juraj ; E030
Measurement 2007 : . s.279-282
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
article
- Charakterizácia elektrických vlastností štruktúr MOS s tenkými dielektrickými vrstvami s vysokou dielektrickou konštantou
Valkay Gabriel ; E Valent Peter (Thesis advisor) ; E210 Písečný Pavol (Thesis advisor) Harmatha Ladislav (Thesis advisor) ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2006 . - 59 s
elektronika Mikroelektronika
diplomová práca
book