Search results
- EBIC analysis of semi-insulating GaN/Si-doped GaN-on-GaN test structures for vertical GaN transistors / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Aleš Chvála, Peter Šichman, Stanislav Hasenöhrl, Ján Kuzmík, František Uherek
Priesol Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Šichman Peter Hasenöhrl Stanislav Kuzmík Ján Uherek František ; 033000
WOCSDICE‐EXMATEC 2022 : . S. OP 94-95
článok zo zborníka
BEE - Scientific works in not noticed year-books from international undertakings, foreign year-books
O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka
article
- Identification of electrically stressed regions in AlGaN/GaN-on-Si Schottky barrier diode using EBIC technique / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Aleš Chvála, Steve Stoffels, Brice De Jaeger, Stefaan Decoutere
Priesol Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Stoffels Steve De Jaeger Brice Decoutere Stefaan
IEEE Transactions on Electron Devices . Vol. 68, No. 1 (2021), s. 216-221
AlGaN/GaN electric field electrical stress EBIC Focused Ion Beam Scanning electron microscopy Schottky diode TCAD simulation
https://ieeexplore.ieee.org/document/9288930
článok z periodika
ADC - Scientific titles in foreign carented magazines and noticed year-books
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisuarticle
- Analysis and modeling of vertical current conduction and breakdown mechanisms in semi-insulating GaN grown on GaN: Role of deep levels / aut. Roman Stoklas, Aleš Chvála, Peter Šichman, Stanislav Hasenöhrl, Štefan Haščík, Juraj Priesol, Alexander Šatka, Ján Kuzmík
Stoklas Roman Chvála Aleš ; 033000 Šichman Peter Hasenöhrl Stanislav Haščík Štefan Priesol Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Kuzmík Ján
IEEE Transactions on Electron Devices . Vol. 68, No. 5 (2021), s. 2365-2371
Carrier compensation electrical breakdown Semi-insulating simulation space-charge-limited current Vertical transistor
https://ieeexplore.ieee.org/document/9384237
článok z periodika
ADC - Scientific titles in foreign carented magazines and noticed year-books
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisuarticle
- Program na záznam a spracovanie obrazu z optického mikroskopu v prostredí NI LabVIEW
Glváč Roman ; 033000 Priesol Juraj ; 033000 (Thesis advisor)
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2021
FEI ; Date of acceptation : 01.07.2021 ; Degreee discipline : informatika ; Degree program : B-API . - 48 s., príl.
https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=38F43C5054BC4F7F2DBAC0F31F28&seo=CRZP-detail-kniha
bakalárska práca
book
- Investigation of EBIC line profiles at the p-n junction by numerical simulations using Monte Carlo method / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Karen Geens
Priesol Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Geens Karen
SURFINT - SREN VII : . S. 49-50
článok zo zborníka
AFG - Abstractions of scientific titles in year-books from international conferencesarticle
- Detekcia a počítanie porúch z panchromatických katódoluminiscenčných máp
Gellen David ; 033000 Priesol Juraj ; 033000 (Thesis advisor)
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2021
FEI ; Date of acceptation : 01.07.2021 ; Degreee discipline : informatika ; Degree program : B-API . - 56 s., príl.
https://opac.crzp.sk/?fn=detailBiblioForm&sid=38F43C5054BC4F7F2DBAC1F31F28&seo=CRZP-detail-kniha
bakalárska prácabook
- Diagnostika materiálov a štruktúr metódami rastrovacej a interferenčnej mikroskopie / aut. Daniel Haško, Juraj Priesol, Jozef Chovan ; ed. Alexander Šatka
Haško Daniel Šatka Alexander ; 033000 Priesol Juraj ; 033000 Chovan Jozef
Fotonika 2020 : . S. 30-33
mikroskopické metódy diagnostika povrchov nové materiály a štruktúry
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferencesarticle
- Investigation of semi-vertical GaN FET structures using EBIC method / aut. Alexander Šatka, Juraj Priesol, Shuzhen You, Karen Geens, Stefaan Decoutere
Šatka Alexander ; 033000 Priesol Juraj ; 033000 You Shuzhen Geens Karen Decoutere Stefaan
Solid State Surfaces and Interfaces : . S. 92-93
článok zo zborníka
AFH - Abstractions of scientific titles in year-books from home conferencesarticle
- Characterization of In-rich InAlN layers by panchromatic and spectrally resolved cathodoluminescence / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Ján Kuzmík, Stanislav Hasenöhrl, Prerna Chauhan, František Uherek, Daniel Haško
Priesol Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Kuzmík Ján Hasenöhrl Stanislav Chauhan Prerna Uherek František ; 033000 Haško Daniel
Solid State Surfaces and Interfaces : . S. 76-77
článok zo zborníka
AFH - Abstractions of scientific titles in year-books from home conferencesarticle
- Charakterizácia polovodičových štruktúr pre vertikálne GaN tranzistory metódami SEM / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, František Uherek, Daniel Haško, Peter Šichman, Stanislav Hasenöhrl, Ján Kuzmík
Priesol Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Uherek František ; 033000 Haško Daniel Šichman Peter Hasenöhrl Stanislav Kuzmík Ján
Fotonika 2020 : . S. 11-14
vertikálny GaN tranzistor rastrovacia elektrónová mikroskopia katódoluminiscencia
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferencesarticle