Search results
- A Combined X-ray, Ellipsometry and Atomic Force Microscopy Study on Thin Parylene-C Films
Flesch G.H. Werzer Oliver Weis Martin ; E150 Jakabovič Ján ; E030 Kováč Jaroslav ; E030 Haško Daniel Jakopic G. Wondergem H.J. Resel Roland
Physica Status Solidi (A)-Applications and Materials Science . Vol. 206 (2009), s.1727-1730
článok z periodika
ADC - Scientific titles in foreign carented magazines and noticed year-books
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
article
- A Combined x-ray, Ellipsometry and Atomic Force Microscopy Study on Thin Parylene-C-Films
Flesch G.H. Werzer Oliver Weis Martin ; E150 Jakabovič Ján ; E030 Kováč Jaroslav ; E030 Haško Daniel Jakopic G. Wondergem H.J. Resel Roland
XTOP 2008 : . s.174
článok zo zborníka
AFG - Abstractions of scientific titles in year-books from international conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle