Search results
- Defects in High-k Gate Dielectric Stacks : Nano-Electronic Semiconductor Devices
Gusev Evgeni
Dordrecht : Springer Verlag, 2006 . - 492 s
ISBN 1-4020-4365-1
MIS štruktúry MOS štruktúry nanotechnológie molekulárne vlastnosti
monografiaFaculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 0 0 0 1 
book
- Príprava a diagnostika štruktúr MIS pre novú generáciu unipolárnych prvkov : Ved.odb. 26-13-9. Obh. 10.3.2006
Písečný Pavol Harmatha Ladislav (Thesis advisor) ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2005
FEI ; . - 103 s
elektronika MIS štruktúry unipolárne prvky
dizertačná práca
DAI - Qualificational works (thesis, habilitation, atestation...)Faculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 1 0 0 0 book
- Analýza polovodičových štuktúr metódami rastovacej elektrónovej mikroskopie : Obh. 3.2.2004
Šatka Alexander ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2003 . - 86 s
polovodičové štruktúry technológia výroby polovodičových štruktúr metódy určovania vlastností polovodičových štruktúr polovodičové štruktúry fyzika polovodičov meracie metódy MIS štruktúry MOS štruktúry
habilitačná prácaFaculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 1 0 0 0 book
- Diagnostika kvality polovodičových štruktúr nerovnovážnymi kapacitnými metódami : Habil.práca : Obh. 03.09.1996 / [aut.] Harmatha,Ladislav, Ing.,CSc
Harmatha Ladislav ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 1996 . - 143 s : príl
polovodičové štruktúry fyzika polovodičov MIS štruktúry MOS štruktúry kapacitné meracie metódy DLTS
habilitačná prácaFaculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 1 0 0 0 book
- Simulácia, meranie a vyhodnocovanie koncentračných profilov prímesí v polovodičových štruktúrach : Habil.práca : Obh. 03.09.1996 / [aut.] Kinder,Rudolf, Ing.,CSc
Kinder Rudolf ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 1996 . - 118 s
polovodičové štruktúry fyzika polovodičov MIS štruktúry MOS štruktúry kapacitné meracie metódy
habilitačná prácaFaculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 1 0 0 0 book
- Analýza kinetiky procesov v polovodičových štruktúrach spektroskopiou hlbokých hladín : Kand.diz.práca : Obh. 24.09.1996 / [aut.] Stuchlíková,Ňubica, Ing.; Škol. Harmatha,Ladislav
Stuchlíková Ľubica ; E030 Harmatha Ladislav (Thesis advisor) ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 1996 . - 93 s
polovodičové štruktúry fyzika polovodičov MIS štruktúry MOS štruktúry kapacitné meracie metódy
dizertačná prácaFaculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 1 0 0 0 book
- Optimalizácia vybraných vlastností rozhrania izolant - arzenid gália : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 15.02.1996 / [aut.] Ivančo,Ján, Ing.; Škol. Hulényi,Ladislav;Pom.škol. Thurzo,Ilja
Ivančo Ján Hulényi Ladislav (Thesis advisor) ; E210 Thurzo Ilja (Thesis advisor)
Piešťany : Fyzikálny ústav SAV, 1995 . - 85 s : príl + Autoref.1995, 16 s
polovodičové štruktúry fyzika povrchov pasivácia povrchov GaAs fyzika rozhraní MIS štruktúry
dizertačná prácaFaculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 1 0 0 0 book
- Využitie povrchovej akustickej vlny na vyšetrovanie hlbokých prímesových hladín : Kand.diz.práca : V.odb. 26-06-9 : Obh. 06.09.1994 / [aut.] Pavlus,Ivan, RNDr.; Škol. Neveselý,Miloslav
Pavlus Ivan Neveselý Miloslav (Thesis advisor)
Žilina : Vysoká škola dopravy a spojov, 1993 . - 57 s Autoref.1993, 24 s
Teoretická elektrotechnika fyzika polovodičov MIS štruktúry tranzientná spektroskopia DLTS meracie metódy povrchové akustické vlny
dizertačná prácaFaculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 1 0 0 0 book
- Skúmanie vlastností rozhrania izolant - polovodič vodivostnou metódou : Kand.diz.práca : V.odb. 26-10-9 : Obh. 07.03.1984 : Projekt III-4-3-2/2 / [aut.] Weber,Bedřich, Ing.; Škol. Csabay,Otto
Weber Bedřich ; E030 Csabay Otto (Thesis advisor) ; E210
Bratislava : SVŠT v Bratislave EF, 1983 . - 170 s : príl + Autoref.1983, 15 s
elektronika MIS štruktúry fyzika tuhých látok polovodičové štruktúry fyzika polovodičov fyzika rozhraní
dizertačná prácaFaculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 1 0 0 0 book