Search results
- The influence of repetitive UIS on electrical properties of advanced automotive power transistors / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Michal Minárik, Aleš Chvála, Ľubica Stuchlíková
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
Advances in Electrical and Electronic Engineering : . Vol. 20, No. 1 (2022), s. 86-94
degradation DLTS repetitive avalanching repetitive unclamped inductive switching TCAD
http://advances.utc.sk/index.php/AEEE/article/view/4120
článok z periodika
ADM - 13/NOVÉ Vedecké práce v zahraničných časopisoch registrovaných v databázach Web of Science alebo SCOPUS
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
article
- Degradation of 600V GaN HEMT with p-GaN gate under repetitive short circuit stress / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Krisztián Gašparek, Miroslav Jagelka, Martin Donoval
Kozárik Jozef ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Gašparek Krisztián ; 033000 Jagelka Martin ; 033000 Donoval Martin ; 030690
ADEPT 2021 : . S. 219-222
GaN HEMT repetitive short circuit DLTS degradation
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Investigation of emission and capture processes in Si IGBT / aut. Jakub Drobný, Matej Matúš, Juraj Marek, Aleš Chvála, Jozef Kozárik, Ľubica Stuchlíková
Drobný Jakub ; 033000 Matuš Matej ; 030000 Marek Juraj ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
ADEPT 2021 : . S. 87-90
IGBT emission and capture processes Deep energy levels DLTS
článok z periodika
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Degradation of 600V GaN HEMTs under repetitive short circuit conditions / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Michal Minárik, Aleš Chvála, Tomáš Debnár, Martin Donoval, Ľubica Stuchlíková
Kozárik Jozef ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Debnár Tomáš ; 033000 Donoval Martin ; 030690 Stuchlíková Ľubica ; 033000
ISPS '21 : . S. 76-81
GaN HEMT repetitive short circuit DLTS degradation
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Study of emission and capture processes in AlGaN/GaN HEMTs for 5G / aut. Ľubica Stuchlíková, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Peter Benko, Martin Florovič, Sylvain Laurent Delage, Jaroslav Kováč, Jaroslav jr Kováč
Stuchlíková Ľubica ; 033000 Drobný Jakub ; 033000 Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Florovič Martin ; 033000 Delage Sylvain Laurent Kováč Jaroslav ; 033000 Kováč Jaroslav jr. ; 033000
ADEPT 2020 : . S. 37-40
DLTS AlGaN/GaN HEMT defects
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Degradation of p-GaN HEMTs exposed to clamped inductive switching / aut. Juraj Marek, Martin Jagelka, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Patrik Príbytný, Alexander Šatka, Martin Donoval, Daniel Donoval, Ľubica Stuchlíková
Marek Juraj ; 033000 Jagelka Martin ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Príbytný Patrik ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Donoval Martin ; 039140 Donoval Daniel ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
GaN Marathon 2.0 : . S. 73-74
DLTS HEMT p-GaN reliability
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- DLTS study of defects in SiC based devices / aut. Ľubica Stuchlíková, Ondrej Pohorelec, Richard Ravasz, Arpád Kósa, Peter Benko, Jaroslav Kováč, Sylvain Laurent Delage
Stuchlíková Ľubica ; 033000 Pohorelec Ondrej ; 030000 Ravasz Richard Kósa Arpád ; 033000 Benko Peter ; 033000 Kováč Jaroslav ; 033000 Delage Sylvain Laurent
International workshop on devices and applications project : . S. 38-40
DLTS deep energy level defect state
článok zo zborníka
BEF - Scientific works in not noticed year-books from home undertakings, home year-books
O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníkaarticle
- Impact of repetitive UIS on modern GaN power devices / aut. Juraj Marek, Ľubica Stuchlíková, Martin Jagelka, Aleš Chvála, Patrik Príbytný, Martin Donoval, Daniel Donoval
Marek Juraj ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000 Jagelka Martin ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Príbytný Patrik ; 033000 Donoval Martin ; 039140 Donoval Daniel ; 033000
ASDAM 2016 : . S. 173-176
high-electron mobility transistor HEMT UIS inductive switching DLTS
http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=7805923
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Correlation between electrical parameters and defect states of polythiophene:fullerene based solar cell / aut. Michal Kaiser, Vojtech Nádaždy, Peter Šiffalovič, Ján Ivančo, Eva Majková
Kaiser Michal ; 036000 Nádaždy Vojtech Šiffalovič Peter Ivančo Ján Majková Eva
Thin Solid Films : . Vol. 614, Part A, (2016), s. 16-24
organic solar cells P3HT PCBM degradation photo-oxidation defect states DLTS
http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0040609016000821
článok z periodika
ADC - Scientific titles in foreign carented magazines and noticed year-books
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisuarticle
- Deep level transient fourier spectroscopy with optical excitation - powerful tool for defect characterization in wide bandgap semiconductors / aut. Miroslav Petrus, Robert Szobolovszký, Arpád Kósa
Petrus Miroslav ; 033000 Szobolovszký Robert ; 033000 Kósa Arpád ; 033000
ELITECH´16 : . CD-ROM, [5] s.
DLTS MCTFS DLTFS DLTFS-O AlGaN/GaN HEMT structure
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle