Estimation of Screened Plasma Resonance Frequencies of a Layered Semiconductor Using a Single Oblique Incidence Reflectance Spectrum
Foltin Ondrej ; E150 
Physica Status Solidi (A)-Applications and Materials Science . Vol. 204, No. 4 (2007), s.1158-1161
šikmá zrkadlová odrazivosť plazmová rezonancia vrstenvatý polovodič
článok z periodika
ADC - Scientific titles in foreign carented magazines and noticed year-books
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu