Search results
- Modern p-GaN power HEMT devices under UIS conditions / aut. Juraj Marek, Alexander Šatka, Martin Jagelka, Aleš Chvála, Patrik Príbytný, Martin Donoval, Daniel Donoval
Marek Juraj ; 033000 Šatka Alexander ; 033000 Jagelka Martin ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Príbytný Patrik ; 033000 Donoval Martin ; 033000 Donoval Daniel ; 033000
ADEPT 2017 : . S. 44-47
high-electron mobility transistor p-GaN UIS inductive switching
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
article
- Impact of repetitive UIS on modern GaN power devices / aut. Juraj Marek, Ľubica Stuchlíková, Martin Jagelka, Aleš Chvála, Patrik Príbytný, Martin Donoval, Daniel Donoval
Marek Juraj ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000 Jagelka Martin ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Príbytný Patrik ; 033000 Donoval Martin ; 039140 Donoval Daniel ; 033000
ASDAM 2016 : . S. 173-176
high-electron mobility transistor HEMT UIS inductive switching DLTS
http://ieeexplore.ieee.org/stamp/stamp.jsp?arnumber=7805923
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- UIS capability of modern GaN power devices / aut. Juraj Marek, Martin Jagelka, Aleš Chvála, Patrik Príbytný, Martin Donoval, Daniel Donoval
Marek Juraj ; 033000 Jagelka Martin ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Príbytný Patrik ; 033000 Donoval Martin ; 039140 Donoval Daniel ; 033000
ADEPT 2016 : . S. 249-252
high-electron mobility transistor HEMT UIS inductive switching
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- UIS tester pre GAN tranzistory / aut. Martin Jagelka, Peter Telek, Juraj Marek, Martin Donoval, František Horínek, Martin Daříček
Jagelka Martin ; 033000 Telek Peter ; 033000 Marek Juraj ; 033000 Donoval Martin ; 039000 Horínek František ; 033000 Daříček Martin ; 033000
ELOSYS. Elektrotechnika, informatika a telekomunikácie 2015 : . CD-ROM, S. 46-48
testovanie tranzistorov GaN UIS spínací test
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Modelovanie, simulácia a charakterizácia vybraných vlastností moderných výkonových štruktúr a prvkov : dát. obhaj. 26.6.2007, čís. ved. odb. 26-13-9
Vrbický Andrej ; E210 Donoval Daniel (Thesis advisor) ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2007 . - 99 s
elektronika DMOS MOSFETS modelovanie a simulácia elektronické prvky energetická odolnosť TCAD UIS
dizertačná práca
DAI - Qualificational works (thesis, habilitation, atestation...)Faculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 1 0 0 0 
book