Search results
- Izolačné vlastnosti a prieraz hradlového oxidu štruktúry MOS : Dát. obhaj. 25.02.2010, č. ved. odb. 26-13-9
Valent Peter ; E210 Harmatha Ladislav (Thesis advisor) ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2009 . - 94 s
elektronika izolačné vlastnosti MOS štruktúry prierazné napätie
dizertačná práca
DAI - Qualificational works (thesis, habilitation, atestation...)Faculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 1 0 0 0 
book
- Aplikácia Al2O3 dielektrických vrstviev v technológii tranzistorov a heteropriechodom na báze InAlN/GaN : č.ved.odb.: 26-13-9, dát. obhaj. 1.2.2010
Čičo Karol Kuzmík Ján (Thesis advisor)
Bratislava : Elektrotechnický ústav SAV, 2009 . - 107 s
MOS štruktúry tenké vrstvy meranie dielektrických veličín tranzistory
dizertačná prácaFaculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 1 0 0 0 book
- Radiačná odolnosť MOS štruktúr ožiarených 130MeV ťažkými iónmi Xe
Muránsky Viktor ; E Žiška Milan (Thesis advisor) ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2009 . - 40 s
elektronika Mikroelektronika MOS štruktúry tepelné spracovanie
diplomová prácabook
- Charakterizácia štruktúr MOS s dusíkom dotovaným Si substrátom pre unipolárnu vykonovú elektroniku
Nemec Michal ; E030 Harmatha Ladislav (Thesis advisor) ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2009 . - 52 s
elektronika Mikroelektronika MOS štruktúry
diplomová prácabook
- Diagnostika kvality polovodičových štruktúr a prvkov
Šramatý Roman ; E210 Stuchlíková Ľubica (Thesis advisor) ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2009 . - 46 s
elektronika Mikroelektronika polovodičové štruktúry fyzika polovodičov MOS štruktúry
diplomová prácabook
- Charakterizácia štruktúr MOS pre pokročilú CMOS technológiu
Veľas Jozef ; E Harmatha Ladislav (Thesis advisor) ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2009 . - 42 s
elektronika Mikroelektronika MOS štruktúry CMOS
diplomová prácabook
- Výskum vlastností materiálov pre pokročilé MOS štruktúry : č.ved.odb. 26-35-9, dát.obhaj. 18.12.2008
Lupták Roman Fröhlich Karol (Thesis advisor)
Bratislava : Elektrotechnický ústav SAV, 2008 . - 119 s
elektrotechnológie a materiály MOS štruktúry
dizertačná práca
DAI - Qualificational works (thesis, habilitation, atestation...)Faculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 1 0 0 0 book
- Charakterizácia elektrofyzikálnych vlastností implantovaných štruktúr MOS s tenkými izolačnými vrstvami s vysokou permitivitou
Kmeť Adam Harmatha Ladislav (Thesis advisor) ; E030 Kováč Peter (Thesis advisor)
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2007
FEI ; . - 50 s
Mikroelektronika MOS štruktúry elektrofyzikálne vlastnosti izolačné vrstvy
diplomová prácabook
- Analýza prúdovo-napäťových charakteristík štruktúr MOS s tenkými dielektrickýcmi vrstvami s vysokou dielektrickou konštatantou
Vernarský Vladimír Ťapajna Milan (Thesis advisor) ; E210 Harmatha Ladislav (Thesis advisor) ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2007
FEI ; . - 42 s
Mikroelektronika MOS štruktúry tenké vrstvy meranie dielektrických veličín
diplomová prácabook
- Charakterizácia elektrofyzikálnych procesov v štruktúrach MOS pre pokročilú CMOS technológiu : dát. obhaj. 26.6.2007, čís. ved. odb. 26-13-9
Ťapajna Milan ; E210 Harmatha Ladislav (Thesis advisor) ; E030
Bratislava : STU v Bratislave FEI, 2007 . - 130 s
elektronika CMOS MOS štruktúry elektrofyzikálne vlastnosti
dizertačná práca
DAI - Qualificational works (thesis, habilitation, atestation...)Faculty Available Inaccesible Issued For Request Only FEI 1 0 0 0 book