Search results
- A new user-friendly ATPG platform for digital circuits / aut. Marek Lipovský, Ján Švarc, Elena Gramatová, Petr Fišer
Lipovský Marek Švarc Ján Gramatová Elena ; 070400 Fišer Petr
DDECS 2016 : . S. 210-213
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
article
- A new method for path criticality calculation / aut. Róbert Tamáši, Miroslav Siebert, Elena Gramatová, Petr Fišer
Tamáši Róbert Siebert Miroslav Gramatová Elena ; 070400 Fišer Petr
DDECS 2016 : . S. 190-193
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- A new algorithm for embedded memories division for MBIST testing in SoCs / aut. Juraj Šubín, Elena Gramatová
Šubín Juraj ; 070400 Gramatová Elena ; 070400
Proceedings of PESW 2016, the 4th Prague Embedded Systems Workshop
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Parameterized critical path selection for delay fault testing Miroslav Siebert, Elena Gramatova
Siebert Miroslav ; 070400 Gramatová Elena ; 070400
DDECS 2015 : . S. 153-156
poruchy oneskorení kritické cesty
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- A new system for BIST architecture generation for embedded memories in SoCs / aut. Juraj Šubín, Štefan Krištofík
Šubín Juraj ; 070400 Krištofík Štefan ; 070400 Gramatová Elena ; 070400 (Thesis advisor)
MEDIAN Finale . S. 11-12
článok zo zborníka
GII - Several publications and documents, which are not in any previous category
GLOB - záznamy, ktoré neprešli globalkamiarticle
- A new universal BIST for testing embedded memories in SoCs / aut. Juraj Šubín, Elena Gramatová
Šubín Juraj ; 070100 Gramatová Elena ; 070100
PESW 2015 . [2] s.
článok zo zborníka
AFG - Abstractions of scientific titles in year-books from international conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Univerzálny BIST pre testovanie vnorených pamätí v systémoch na čipe / aut. Juraj Šubín ; škol. Elena Gramatová
Šubín Juraj ; 070100 Gramatová Elena ; I100 (Thesis advisor)
Počítačové architektury a diagnostika PAD 2015 : . S. 75-80
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- An efficient functional test generation method for processors using genetic algorithms / aut. Ján Hudec, Elena Gramatová
Hudec Ján ; 070400 Gramatová Elena ; 070400
Journal of Electrical Engineering : . Vol. 66, No. 4 (2015), s. 185-193
procesor funkčný test procesora genetický algoritmus evolučná stratégia
článok z periodika
ADN - 13/NOVÉ Vedecké práce v domácich časopisoch registrovaných v databázach Web of Science alebo SCOPUS
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisuarticle
- A new adaptive system for software-based test generation of processors / aut. Ján Hudec, Elena Gramatová
Hudec Ján ; 070100 Gramatová Elena ; 070100
Cost Action IC1103 MEDIAN 2015, part of design, automation and test in Europe . S. 9-12
článok zo zborníka
GII - Several publications and documents, which are not in any previous category
GLOB - záznamy, ktoré neprešli globalkamiarticle
- PaCGEN: Automatic system for critical path selection based on multiple parameters Miroslav Siebert, Elena Gramatova, Lukas Nagy
Siebert Miroslav ; I100 Gramatová Elena ; I100 Nagy Lukáš ; E030
Proceedings of the 14th biennial baltic electronics conference . S. 97 - 100
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
(2) - článokarticle