Search results
- Simulation of electrical properties and reliability of power IGBT module / aut. František Kovaľ, Aleš Chvála
Kovaľ František ; 030000 Chvála Aleš ; 033000
ADEPT 2022 : . S. 73-76
IGBT module reliability simulation
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
article
- Druhá generácia Eurokódu 2 - pretlačenie lokálne podopretých dosiek
Halvoník Jaroslav ; 010110 Majtánová Lucia ; 010110
28. Betonářské dny 2022 : . USB kľúč, s. 201-207
pretlačenie lokálne podopretá doska odolnosť spoľahlivosť punching flat slab resistance reliability
článok zo zborníka
BEE - Scientific works in not noticed year-books from international undertakings, foreign year-books
O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníkaarticle
- Investigation of the effect of different shading scale on the operating of photovoltaic modules using numerical simulations / aut. Milan Perný, Vladimír Šály, Juraj Packa, František Janíček, János Kurcz, Lukáš Valášek
Perný Milan ; 032000 Šály Vladimír ; 032000 Packa Juraj ; 032000 Janíček František ; 032000 Kurcz János ; 032000 Valášek Lukáš
EPE 2022 : . S. 205-210
bypass diode hotspot diagnostics reliability Photovoltaics renewable energy sources simulations MATLAB
https://ieeexplore.ieee.org/document/9814102
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Analysis of 15 A–1200 V class IGBTs under repeitive SC conditions / aut. Juraj Marek, Michal Minárik, Jozef Kozárik, Martin Jagelka
Marek Juraj ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Jagelka Martin ; 033000
ADEPT 2022 : . S. 205-208
reliability degradation IGBT repetitive short circuit
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníkaarticle
- Digital on-chip calibration of analog systems towards enhanced reliability / aut. Michal Šovčík, Lukáš Nagy, Viera Stopjaková, Daniel Arbet
Šovčík Michal ; 033000 Nagy Lukáš ; 033000 Stopjaková Viera ; 033000 Arbet Daniel ; 033000
Practical Applications in Reliability Engineering / . S. 84-101 [1,67AH]
on-chip digital calibration PVT variations aging compensation reliability input offset voltage continuous operation ultra-low voltage
https://www.intechopen.com/books/practical-applications-in-reliability-engineering/digital-on-chip-calibration-of-analog-systems-towards-enhanced-reliability
kapitola(článok) z dokumentu
ACC - Chapters in academic school-books issued in foreign editorship
P2 - Pedagogický výstup publikačnej činnosti ako časť učebnice alebo skriptaarticle
- Probabilistic nonlinear analysis of steel frame safety under extreme wind impact
Králik Juraj ; 010250 Králik Juraj ml. ; 054140
Sborník vědeckých prací Vysoké školy báňské - Technické univerzity Ostrava. Řada stavební . Vol. 21, no. 2 (2021), s. 36-43
safety reliability risk fragility
http://tces.vsb.cz/Home/ArticleDetail/820
článok z periodika
ADE - Scientific titles in foreign not carented magazines and other year-books
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisuarticle
- Power SiC MOSFET under repetitive UIS and short circuit stress / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Michal Minárik, Martin Donoval
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Donoval Martin ; 030690
ADEPT 2021 : . S. 67-70
reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive UIS repetitive short circuit
článok z periodika
AFD - Reports at home scientific conferencesarticle
- The Domaša Reservoir in the Spectrum of Climate Change
Škvarka Juraj ; 010150 Bednárová Emília ; 010150 Miščík Marián Uhorščák Ľubomír
Slovak Journal of Civil Engineering . Vol. 29, no. 2 (2021), s. 9-15
reservoir dam climate discharge reliability
https://sciendo.com/article/10.2478/sjce-2021-0009
článok z periodika
ADN - 13/NOVÉ Vedecké práce v domácich časopisoch registrovaných v databázach Web of Science alebo SCOPUS
V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisuarticle
- Degradation of power SiC MOSFET under repetitive UIS and short circuit stress / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Michal Minárik, Ľubica Stuchlíková
Marek Juraj ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
ISPS '21 : . S. 70-75
reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive unclamped inductive switching repetitive short circuit
článok zo zborníka
AFC - Reports at international scientific conferencesarticle
- On-chip digital calibration for analog ICs towards improved reliability in nanotechnologies / aut. Michal Šovčík, Viera Stopjaková, Lukáš Nagy, Miroslav Potočný, Daniel Arbet
Šovčík Michal ; 033000 Stopjaková Viera ; 033000 Nagy Lukáš ; 033000 Potočný Miroslav ; 033000 Arbet Daniel ; 033000
ICETA 2020 : . S. 646-651
PVT variations digital calibration continuous operation input offset voltage ageing compensation reliability chopper stabilization
https://ieeexplore.ieee.org/document/9379201
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferencesarticle