Search results

Records found: 88  
Your query: Author Sysno/Doc.kind = "^stu_us_auth stus21707 xcla^"
  1. Simulation of electrical properties and reliability of power IGBT module / aut. František Kovaľ, Aleš Chvála
    Kovaľ František ; 030000  Chvála Aleš ; 033000
    ADEPT 2022 : . S. 73-76
    IGBT module reliability simulation
    článok zo zborníka
    AFD - Reports at home scientific conferences
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    article

    article

  2. Druhá generácia Eurokódu 2 - pretlačenie lokálne podopretých dosiek
    Halvoník Jaroslav ; 010110  Majtánová Lucia ; 010110
    28. Betonářské dny 2022 : . USB kľúč, s. 201-207
    pretlačenie lokálne podopretá doska odolnosť spoľahlivosť punching flat slab resistance reliability
    článok zo zborníka
    BEE - Scientific works in not noticed year-books from international undertakings, foreign year-books
    O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka
    article

    article

  3. Investigation of the effect of different shading scale on the operating of photovoltaic modules using numerical simulations / aut. Milan Perný, Vladimír Šály, Juraj Packa, František Janíček, János Kurcz, Lukáš Valášek
    Perný Milan ; 032000  Šály Vladimír ; 032000 Packa Juraj ; 032000 Janíček František ; 032000 Kurcz János ; 032000 Valášek Lukáš
    EPE 2022 : . S. 205-210
    bypass diode hotspot diagnostics reliability Photovoltaics renewable energy sources simulations MATLAB
    https://ieeexplore.ieee.org/document/9814102
    článok zo zborníka
    AFC - Reports at international scientific conferences
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    article

    article

  4. Analysis of 15 A–1200 V class IGBTs under repeitive SC conditions / aut. Juraj Marek, Michal Minárik, Jozef Kozárik, Martin Jagelka
    Marek Juraj ; 033000  Minárik Michal ; 033000 Kozárik Jozef ; 033000 Jagelka Martin ; 033000
    ADEPT 2022 : . S. 205-208
    reliability degradation IGBT repetitive short circuit
    článok zo zborníka
    AFD - Reports at home scientific conferences
    V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    article

    article

  5. Digital on-chip calibration of analog systems towards enhanced reliability / aut. Michal Šovčík, Lukáš Nagy, Viera Stopjaková, Daniel Arbet
    Šovčík Michal ; 033000  Nagy Lukáš ; 033000 Stopjaková Viera ; 033000 Arbet Daniel ; 033000
    Practical Applications in Reliability Engineering / . S. 84-101 [1,67AH]
    on-chip digital calibration PVT variations aging compensation reliability input offset voltage continuous operation ultra-low voltage
    https://www.intechopen.com/books/practical-applications-in-reliability-engineering/digital-on-chip-calibration-of-analog-systems-towards-enhanced-reliability
    kapitola(článok) z dokumentu
    ACC - Chapters in academic school-books issued in foreign editorship
    P2 - Pedagogický výstup publikačnej činnosti ako časť učebnice alebo skripta
    article

    article

  6. Probabilistic nonlinear analysis of steel frame safety under extreme wind impact
    Králik Juraj ; 010250  Králik Juraj ml. ; 054140
    Sborník vědeckých prací Vysoké školy báňské - Technické univerzity Ostrava. Řada stavební . Vol. 21, no. 2 (2021), s. 36-43
    safety reliability risk fragility
    http://tces.vsb.cz/Home/ArticleDetail/820
    článok z periodika
    ADE - Scientific titles in foreign not carented magazines and other year-books
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    article

    article

  7. Power SiC MOSFET under repetitive UIS and short circuit stress / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Michal Minárik, Martin Donoval
    Marek Juraj ; 033000  Kozárik Jozef ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Donoval Martin ; 030690
    ADEPT 2021 : . S. 67-70
    reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive UIS repetitive short circuit
    článok z periodika
    AFD - Reports at home scientific conferences
    article

    article

  8. The Domaša Reservoir in the Spectrum of Climate Change
    Škvarka Juraj ; 010150  Bednárová Emília ; 010150 Miščík Marián Uhorščák Ľubomír
    Slovak Journal of Civil Engineering . Vol. 29, no. 2 (2021), s. 9-15
    reservoir dam climate discharge reliability
    https://sciendo.com/article/10.2478/sjce-2021-0009
    článok z periodika
    ADN - 13/NOVÉ Vedecké práce v domácich časopisoch registrovaných v databázach Web of Science alebo SCOPUS
    V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    article

    article

  9. Degradation of power SiC MOSFET under repetitive UIS and short circuit stress / aut. Juraj Marek, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, Michal Minárik, Ľubica Stuchlíková
    Marek Juraj ; 033000  Kozárik Jozef ; 033000 Chvála Aleš ; 033000 Minárik Michal ; 033000 Stuchlíková Ľubica ; 033000
    ISPS '21 : . S. 70-75
    reliability degradation SiC MOSFET TrenchMOSFET repetitive unclamped inductive switching repetitive short circuit
    článok zo zborníka
    AFC - Reports at international scientific conferences
    article

    article

  10. On-chip digital calibration for analog ICs towards improved reliability in nanotechnologies / aut. Michal Šovčík, Viera Stopjaková, Lukáš Nagy, Miroslav Potočný, Daniel Arbet
    Šovčík Michal ; 033000  Stopjaková Viera ; 033000 Nagy Lukáš ; 033000 Potočný Miroslav ; 033000 Arbet Daniel ; 033000
    ICETA 2020 : . S. 646-651
    PVT variations digital calibration continuous operation input offset voltage ageing compensation reliability chopper stabilization
    https://ieeexplore.ieee.org/document/9379201
    článok zo zborníka
    AFD - Reports at home scientific conferences
    article

    article