Search results

Records found: 3  
Your query: Author Sysno/Doc.kind = "^stu_us_auth stus34 azn^"
  1. 2000 IEEE International reliability physics symposium procedings : 38th annual. San Jose, California, USA.10.- 13. April 2000
    Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2000 . - 455 s
    ISBN 0-7803-5860-0
    spoľahlivosť fyzika tuhých látok fyzika polovodičov polovodiče polovodičové súčiastky dielektriká
    zborník
    Faculty Available Inaccesible Issued For Request Only
    FEI0001
    book

    book

  2. 1999 IEEE international reliability physics symposium proceedings : 37th annual. San Diego, USA California. 23.- 25. March 1999
    Piscataway : Institute of Electrical and Electronics Engineers, 1999 . - 448 s
    ISBN 0-7803-5220-3
    spoľahlivosť fyzika tuhých látok fyzika polovodičov polovodiče polovodičové súčiastky dielektriká
    zborník
    Faculty Available Inaccesible Issued For Request Only
    FEI0100
    book

    book

  3. 50 rokov od objavu tranzistora : Bratislava, SR. 17. Dec. 1997
    Dubravcová Viera (Compiler) ; E210 
    Bratislava : STU v Bratislave, 1997 . - 73 s
    ISBN 80-227-1038-5
    tranzistory polovodičové súčiastky integrované obvody
    zborník
    Faculty Available Inaccesible Issued For Request Only
    FEI0001
    book

    book



  This site uses cookies to make them easier to browse. Learn more about how we use cookies.