Search results
- Ridge-waveguide InAs/GaAs lasers
Kuna Ladislav Uherek František ; E030 Kováč Jaroslav ; E030 Jakabovič Ján ; E030 Gottschalch V. Rheinlander B.
ASDAM 2000. The Third International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems : . s.127-130
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
(1) - článok - Growth and Characterisation of RuO2 Films Prepared by Reactive Unbalanced Magnetron Sputtering
Búc Dalibor ; E030 Music D. Helmersson U.
ASDAM 2000. The Third International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems : . s.465-468
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Resonant Cavity LED with InAs/GaAs Active Region / aut. J Kvietková, Jaroslav Kováč, B Rheinländer, V Gottschalch, Matej Blaho, Ján Jakabovič, Jaroslava Škriniarová
Kvietková J. Kováč Jaroslav ; 033000 Rheinländer B. Gottschalch V. Blaho Matej Jakabovič Ján ; 033000 Škriniarová Jaroslava ; 033000
ASDAM 2000. The Third International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems : . S.139-142
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Determination of Implanted Layer Depth in Silicon by Electrochemical C-V Technique / aut. Ladislav Hulényi, Rudolf Kinder, Alexander Šatka
Hulényi Ladislav Kinder Rudolf Šatka Alexander ; 033000
ASDAM 2000. The Third International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems : . S.315-318
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Thin Film Interdigitated Electrode Arrays Applicable for Non-Invasive Monitoring of Human Skin / aut. Rastislav Ivanič, Martin Weis, Vladimír Tvarožek
Ivanič Rastislav Weis Martin ; 033000 Tvarožek Vladimír
ASDAM 2000. The Third International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems : . S. 319-323
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Photoenhanced Wet Etching of Gallium Nitride for Gate Recessing / aut. Jaroslava Škriniarová, A Fox, H.P Bochem, Peter Kordoš
Škriniarová Jaroslava ; 033000 Fox A. Bochem H.P. Kordoš Peter
ASDAM 2000. The Third International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems : . S.13-16
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Study of Diamond Films Prepared by Hot Filament Chemical Vapor Deposition / aut. Alexander Kromka, Viliam Malcher, Ján Janík, Viera Dubravcová, Alexander Šatka, Ivan Červeň
Kromka Alexander Malcher Viliam Janík Ján Dubravcová Viera Šatka Alexander ; 033000 Červeň Ivan
ASDAM 2000. The Third International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems : . S. 299-302
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Vertically Arranged Microelectrode Array for Electrochemical Sensing / aut. Vlastimil Řeháček, Ivan Novotný, Rastislav Ivanič, V Breternitz, Lothar Spiess, Christian Knedlik, Vladimír Tvarožek
Řeháček Vlastimil ; 033000 Novotný Ivan ; 033000 Ivanič Rastislav Breternitz V. Spiess Lothar Knedlik Christian Tvarožek Vladimír
ASDAM 2000. The Third International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems : . S.421-424
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Simulation of Current Transport in Highly Doped Semiconductor Structures Including the Tunnelling Effect / aut. Juraj Racko, Vladimír Drobný, Daniel Donoval
Racko Juraj ; 033000 Drobný Vladimír Donoval Daniel ; 033000
ASDAM 2000. The Third International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems : . S.35-38
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka - Physical and Structural Characterization of NiO Thin Films for Gas Detection / aut. Ivan Hotový, Jozef Huran, Lothar Spiess, P Siciliano, Vlastimil Řeháček
Hotový Ivan ; 033000 Huran Jozef Spiess Lothar Siciliano P. Řeháček Vlastimil ; 033000
ASDAM 2000. The Third International Conference on Advanced Semiconductor Devices and Microsystems : . S.331-334
článok zo zborníka
AFD - Reports at home scientific conferences
V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka