Počet záznamov: 1  

Advanced test head in voltage maps measurement process

  1. Údaje o názveAdvanced test head in voltage maps measurement process / aut. Andreas Weisze, Daniela Ďuračková, Marek Kukučka, Zuzana Krajčušková
    Záhlavie-meno Weisze, Andreas, 1969- (Autor)
    Ďal.zodpovednosť Ďuračková, Daniela, 1950- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Kukučka, Marek, 1975- Z1 (Autor) - FEI Ústav automobilovej mechatroniky
    Krajčušková, Zuzana, 1952- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    In APCOM 2015 [400 s.] / International conference on applied physics of condensed matter. -- Bratislava : Vydavateľstvo STU , 2015. -- ISBN 978-80-227-4373-0. -- S. 346-349
    Jazyk dok.angličtina
    URLhttp://kf.elf.stuba.sk/~apcom/apcom15/proceedings/pdf/346_weisze
    Druh dok.RZB - článok zo zborníka
    KategóriaAFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    Kategória od 2022V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Rok2015
    článok

    článok

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.