Počet záznamov: 1  

Štúdium laserom ryhovaných GaAs substrátov metódami SIMS a SEM

  1. Údaje o názveŠtúdium laserom ryhovaných GaAs substrátov metódami SIMS a SEM / Jozef Kocanda, Vladimír Fesič, Magdaléna Matečková, Jaroslav Parízek, Juraj Breza
    Záhlavie-meno Kocanda, Jozef (Autor)
    Ďal.zodpovednosť Fesič, Vladimír (Autor)
    Matečková, Magdaléna, 1956- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Parízek, Jaroslav (Autor)
    Breza, Juraj, 1951- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    In Jemná mechanika a optika. -- Roč. 37, (1992), č. 9-10, s. 450-454
    Jazyk dok.slovenčina
    Druh dok.RBX - článok z periodika
    KategóriaADE - 12/Vedecké práce v zahraničných nekarentovaných časopisoch ; 13/Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch
    článok

    článok

Počet záznamov: 1