Počet záznamov: 1
Štúdium laserom ryhovaných GaAs substrátov metódami SIMS a SEM
Údaje o názve Štúdium laserom ryhovaných GaAs substrátov metódami SIMS a SEM / Jozef Kocanda, Vladimír Fesič, Magdaléna Matečková, Jaroslav Parízek, Juraj Breza Záhlavie-meno Kocanda, Jozef (Autor) Ďal.zodpovednosť Fesič, Vladimír (Autor) Matečková, Magdaléna, 1956- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Parízek, Jaroslav (Autor) Breza, Juraj, 1951- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In Jemná mechanika a optika. -- Roč. 37, (1992), č. 9-10, s. 450-454 Jazyk dok. slovenčina Druh dok. RBX - článok z periodika Kategória ADE - 12/Vedecké práce v zahraničných nekarentovaných časopisoch ; 13/Vedecké práce v ostatných zahraničných časopisoch Kategória od 2022 V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu článok
Počet záznamov: 1