Počet záznamov: 1  

Electronic structure of UV degradation defects in polysilanes studied by Energy Resolved – Electrochemical Impedance Spectroscopy

  1. CREPC102016 CREPC201701 CREPC201702 CREPC201703 CREPC201706
    Údaje o názveElectronic structure of UV degradation defects in polysilanes studied by Energy Resolved – Electrochemical Impedance Spectroscopy / aut. František Schauer, Miroslava Tkáčová, Vojtech Nádaždy, Katarína Gmucová, Miroslava Ožvoldová, L Tkáč, Juraj Chlpík
    Záhlavie-meno Schauer, František (Autor)
    Ďal.zodpovednosť Tkáčová, Miroslava, 1986- (Autor)
    Nádaždy, Vojtech (Autor)
    Gmucová, Katarína (Autor)
    Ožvoldová, Miroslava (Autor)
    Tkáč, Lukáš Z5 (Autor)
    Chlpík, Juraj, 1975- Z1 (Autor) - FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva
    PoznámkyIF=3,386, Q=1
    In Polymer Degradation and Stability. -- ISSN 0141-3910. -- Vol. 126, (2016), s. 204-208
    Predmet.heslá polysilanes
    poly[methyl(phenyl)silylene
    UV degradation
    photochemical scission
    crosslinking defects
    bridging defects
    Electrochemical Impedance Spectroscopy
    Jazyk dok.angličtina
    URLhttp://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0141391016300398
    Druh dok.RBX - článok z periodika
    KategóriaADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
    Kategória od 2022V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
    V databázach CC: 000372764000024
    SCOPUS: 2-s2.0-84959364604
    Rok2016
    článok

    článok

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.