Počet záznamov: 1
Electronic structure of UV degradation defects in polysilanes studied by Energy Resolved – Electrochemical Impedance Spectroscopy
CREPC102016 CREPC201701 CREPC201702 CREPC201703 CREPC201706 Údaje o názve Electronic structure of UV degradation defects in polysilanes studied by Energy Resolved – Electrochemical Impedance Spectroscopy / aut. František Schauer, Miroslava Tkáčová, Vojtech Nádaždy, Katarína Gmucová, Miroslava Ožvoldová, L Tkáč, Juraj Chlpík Záhlavie-meno Schauer, František (Autor) Ďal.zodpovednosť Tkáčová, Miroslava, 1986- (Autor) Nádaždy, Vojtech (Autor) Gmucová, Katarína (Autor) Ožvoldová, Miroslava (Autor) Tkáč, Lukáš Z5 (Autor) Chlpík, Juraj, 1975- Z1 (Autor) - FEI Ústav jadrového a fyzikálneho inžinierstva Poznámky IF=3,386, Q=1 In Polymer Degradation and Stability. -- ISSN 0141-3910. -- Vol. 126, (2016), s. 204-208 Predmet.heslá polysilanes poly[methyl(phenyl)silylene UV degradation photochemical scission crosslinking defects bridging defects Electrochemical Impedance Spectroscopy Jazyk dok. angličtina URL http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0141391016300398 Druh dok. RBX - článok z periodika Kategória ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch Kategória od 2022 V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu V databázach CC: 000372764000024
SCOPUS: 2-s2.0-84959364604Rok 2016 článok
Počet záznamov: 1