Počet záznamov: 1
Electric-field enhanced thermionic emission model for carrier injection mechanism of organic field-effect transistors: understanding of contact resistance
CREPC201709 CREPC201710 CREPC201711 CREPC022018 CREPC201802 CREPC201803 CREPC201806 Údaje o názve Electric-field enhanced thermionic emission model for carrier injection mechanism of organic field-effect transistors: understanding of contact resistance / aut. Jun Li, Wei Ou-Yang, Martin Weis Záhlavie-meno Li, Jun (Autor) Ďal.zodpovednosť Ou-Yang, Wei (Autor) Weis, Martin, 1980- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Poznámky IF= 2,373 , Q= 2 In Journal of physics D - Applied Physics. -- ISSN 0022-3727. -- Vol. 50, No. 3 (2017), Art. no. 035101 [7] s. Predmet.heslá organic field-effect transistor contact resistance carrier injection Schottky injection model bulk resistance Jazyk dok. angličtina Druh dok. RBX - článok z periodika Kategória ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch Kategória od 2022 V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu V databázach CC: 000390558600001 Rok 2017 
článok
Počet záznamov: 1