Počet záznamov: 1  

Design and test technology for dependable systems-on-chip

  1. Údaje o názveDesign and test technology for dependable systems-on-chip / ed. Raimund Ubar ; ed. Jaann Raik, Theodor Heinrich Vierhaus
    Záhlavie-meno Ubar, Raimund (Editor)
    Ďal.zodpovednosť Raik, Jaann (Editor)
    Vierhaus, Theodor Heinrich (Editor)
    Údaje o vydaní1. vyd.
    Vyd.údajeHershey IGI Global 2011
    Fyz.popis550 s.
    ISBN978-1-60960-212-3
    KrajinaSpojené štáty, Spojené štáty americké
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.AMG - monografia
    Rok2011
    Odkazy (2) - článok
    kniha

    kniha

    Čiar.kódLokačná signatúraSignatúraLokáciaDislokáciaInfo
    284IK06892I* 2C14021Fakulta informatiky a informačných technológií

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.