Defect distribution in Fe - doped InP epitaxial layers

Počet záznamov: 1

Údaje o názve	Defect distribution in Fe - doped InP epitaxial layers / aut. Arpád Kósa, Jakub Drobný, Jaroslav jr Kováč, M Badura, Beata Sciana, Ľubica Stuchlíková
Záhlavie-meno	Kósa, Arpád, 1987- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
Ďal.zodpovednosť	Drobný, Jakub, 1994- Z3 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
	Kováč, Jaroslav jr. 1977- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
	Badura, M. (Autor)
	Sciana, Beata (Autor)
	Stuchlíková, Ľubica, 1967- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
In	ADEPT 2019 [295 s.] / International conference on Advances in electronic and photonic technologies (Adept 2019). -- Žilina : University of Žilina, 2019. -- ISBN 978-80-554-1568-0. -- S. 175-178
Predmet.heslá	Fe doped InP
	defect
	Deep Level Transient Fourier Spectroscopy
Jazyk dok.	angličtina
Druh dok.	RZB - článok zo zborníka
Kategória	AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
Kategória od 2022	V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
Rok	2019

článok

citace PRO

Počet záznamov: 1