Počet záznamov: 1  

Characterization of monolithic InAlN/GaN NAND and NOR logic gates supported by circuit and device simulations

  1. Údaje o názveCharacterization of monolithic InAlN/GaN NAND and NOR logic gates supported by circuit and device simulations / aut. Aleš Chvála
    Záhlavie-meno Chvála, Aleš, 1981- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Ďal.zodpovednosť Nagy, Lukáš, 1985- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Marek, Juraj, 1983- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Priesol, Juraj, 1986- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Donoval, Daniel, 1953- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Blaho, Michal, 1982- (Autor)
    Gregušová, Dagmar (Autor)
    Kuzmík, Ján (Autor)
    Šatka, Alexander, 1960- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    In WOCSDICE 2019 / Workshop on compound semiconductor devices and integrated circuits held in Europe (Wocsdice 2019). -- Cabourg, 2019. -- [2] s.
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.RZB - článok zo zborníka
    KategóriaBEE - 13/Odborné práce v zahraničných zborníkoch (konferenčných aj nekonferenčných); 12/(len nerecenzované)
    Rok2019
    článok

    článok

Počet záznamov: 1