Počet záznamov: 1
Defect analysis of InAlGaN/GaN/SiC HEMT heterostructures
Údaje o názve Defect analysis of InAlGaN/GaN/SiC HEMT heterostructures / aut. Ľubica Stuchlíková, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Jakub Vadovský, Peter Benko, Aurel Škoda, Sylvain Laurent Delage, Jaroslav jr Kováč Záhlavie-meno Stuchlíková, Ľubica, 1967- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Drobný, Jakub, 1994- Z3 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Kósa, Arpád, 1987- Z8 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Vadovský, Jakub (Autor) Z4 - FEI Fakulta elektrotechniky a informatiky Benko, Peter, 1981- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Škoda, Aurel (Autor) Delage, Sylvain Laurent Z6 (Autor) Kováč, Jaroslav jr. 1977- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In WOCSDICE 2019 / Workshop on compound semiconductor devices and integrated circuits held in Europe (Wocsdice 2019). -- Cabourg, 2019. -- [2] s. Jazyk dok. angličtina Druh dok. RZB - článok zo zborníka Kategória BEE - 13/Odborné práce v zahraničných zborníkoch (konferenčných aj nekonferenčných); 12/(len nerecenzované) Kategória od 2022 O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka Rok 2019 
článok
Počet záznamov: 1