Počet záznamov: 1
DLTS study of electrically active defecta in power SiC MOSFET
Údaje o názve DLTS study of electrically active defecta in power SiC MOSFET / aut. Juraj Marek, Jakub Drobný, Arpád Kósa, Peter Benko, Ľubica Stuchlíková Záhlavie-meno Marek, Juraj, 1983- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Drobný, Jakub, 1994- Z3 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Kósa, Arpád, 1987- Z8 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Benko, Peter, 1981- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Stuchlíková, Ľubica, 1967- Z8 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In SURFINT - SREN VI [202 s.] / Progress in applied surface, interface and thin film science. -- Bratislava : Comenius University, 2019. -- ISBN 978-80-223-4811-9. -- S. 96-97 Jazyk dok. angličtina Druh dok. RZB - článok zo zborníka Kategória AFG - Abstrakty príspevkov zo zahraničných konferencií Kategória od 2022 V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Rok 2019 
článok
Počet záznamov: 1