Počet záznamov: 1
Design of test equipment for on-die hard switching and dynamic on-resistance measurement of GaN HEMTs
Údaje o názve Design of test equipment for on-die hard switching and dynamic on-resistance measurement of GaN HEMTs / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Tomáš Debnár, Aleš Chvála, Krisztián Gašparek, Daniel Donoval Záhlavie-meno Kozárik, Jozef, 1993- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Marek, Juraj, 1983- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Debnár, Tomáš, 1993- Z3 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Chvála, Aleš, 1981- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Gašparek, Krisztián, 1995- Z3 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Donoval, Daniel, 1953- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In Radioelektronika 2020 [206 s.] / International Conference Radioelektronika 2020. -- Piscataway : IEEE, 2020. -- ISBN 978-1-7281-6468-7. -- S. 201-204 Predmet.heslá GaN HEMT dynamic resistance hard switching on-die measurement Jazyk dok. angličtina Druh dok. RZB - článok zo zborníka Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Kategória od 2022 V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Rok 2020 
článok
Počet záznamov: 1