- Zr and Mo thin films with reduced residual impurities’ uptake under h…
Počet záznamov: 1  

Zr and Mo thin films with reduced residual impurities’ uptake under highvacuum conditions at room temperature

  1. Údaje o názveZr and Mo thin films with reduced residual impurities’ uptake under highvacuum conditions at room temperature / aut. Marcel Meško, Jana Bohovičová, Frans Munnik, Jörg Grenzer, René Hübner, Ľubomír Čaplovič, Mária Čaplovičová, Ľubomír Vančo, Viliam Vretenár, Matthias Krause
    Záhlavie-meno Meško, Marcel, 1977- (Autor) - MTF Ústav materiálov
    Ďal.zodpovednosť Bohovičová, Jana, 1986- Z2 (Autor) - MTF Ústav materiálov
    Munnik, Frans (Autor)
    Grenzer, Jörg (Autor)
    Hübner, René (Autor)
    Čaplovič, Ľubomír, 1955- Z1 (Autor) - MTF Ústav materiálov
    Čaplovičová, Mária, 1957- Z2 (Autor) - Centrum STU pre nanodiagnostiku
    Vančo, Ľubomír, 1983- Z2 (Autor) - Centrum STU pre nanodiagnostiku
    Vretenár, Viliam, 1976- Z2 (Autor) - Centrum STU pre nanodiagnostiku
    Krause, Matthias (Autor)
    Poznámkyrok vykazovania by bol 2018, ale už je neskoro!!!
    In 16th International Conference on Plasma Surface Engineering [478 s.]. -- 2018. -- S. 1
    Predmet.heslá refractory metallic thin films
    HiPIMS
    residual impurity
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.RZB - článok zo zborníka
    KategóriaBFA - Abstrakty odborných prác zo zahraničných podujatí (konferencie...)
    Kategória od 2022O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka
    článok

    článok

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.