Počet záznamov: 1  

Charackterization, Testing, Measurement, and Metrology

  1. Údaje o názveCharackterization, Testing, Measurement, and Metrology / aut. Chander Prakash, Sunpreet Singh, J. Paulo Davim
    Záhlavie-meno Prakash, Chander (Autor)
    Ďal.zodpovednosť Singh, Sunpreet (Autor)
    Davim, J. Paulo (Autor)
    Vyd.údajeBoca Raton CRC Press 2021
    Fyz.popis192 s.
    ISBN978-0-367-27515-0
    EdíciaManufacturing Design and Technology Series
    Predmet.heslá metrológia
    KrajinaSpojené štáty, Spojené štáty americké
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.AMG - monografia
    kniha

    kniha

    Čiar.kódLokačná signatúraSignatúraLokáciaDislokáciaInfo
    284M088500M* 14403-1Materiálovotechnická fakultaM KNvypožičaný (do *02.01.2024)

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.