Počet záznamov: 1
Charackterization, Testing, Measurement, and Metrology
Údaje o názve Charackterization, Testing, Measurement, and Metrology / aut. Chander Prakash, Sunpreet Singh, J. Paulo Davim Záhlavie-meno Prakash, Chander (Autor) Ďal.zodpovednosť Singh, Sunpreet (Autor) Davim, J. Paulo (Autor) Vyd.údaje Boca Raton CRC Press 2021 Fyz.popis 192 s. ISBN 978-0-367-27515-0 Edícia Manufacturing Design and Technology Series Predmet.heslá metrológia Krajina Spojené štáty, Spojené štáty americké Jazyk dok. angličtina Druh dok. AMG - monografia kniha
Čiar.kód Lokačná signatúra Signatúra Lokácia Dislokácia Info 284M088500 M* 14403-1 Materiálovotechnická fakulta M KN vypožičaný (do *02.01.2024)
Počet záznamov: 1