Počet záznamov: 1
Electrical and DLTS Characterization of Gate Interfaces in GaN-based Trench-gate semi-vertical MOS devices
Údaje o názve Electrical and DLTS Characterization of Gate Interfaces in GaN-based Trench-gate semi-vertical MOS devices / aut. Juraj Marek, Miroslav Mikolášek, Jakub Drobný, Jozef Kozárik, Aleš Chvála, K Geens, Matteo Borga, Hu Liang, Shuzhen You, Stefaan Decoutere, Ľubica Stuchlíková Záhlavie-meno Marek, Juraj, 1983- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Mikolášek, Miroslav, 1983- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Drobný, Jakub, 1994- Z3 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Kozárik, Jozef, 1993- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Chvála, Aleš, 1981- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Geens, K. (Autor) Borga, Matteo (Autor) Liang, Hu Z6 (Autor) You, Shuzhen (Autor) Decoutere, Stefaan Z6 (Autor) Stuchlíková, Ľubica, 1967- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In SSSI 2020 [108 s.] / International conference solid state surfaces and interfaces. -- Bratislava : Comenius University, 2020. -- ISBN 978-80-223-5018-1. -- S. 57-58 Jazyk dok. angličtina Druh dok. RZB - článok zo zborníka Kategória AFH - Abstrakty príspevkov z domácich konferencií Kategória od 2022 V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Rok 2020 
článok
Počet záznamov: 1