Počet záznamov: 1
Design of double-pulse tester for on-die measurement of GaN HEMT dynamic on-resistance
Údaje o názve Design of double-pulse tester for on-die measurement of GaN HEMT dynamic on-resistance / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Aleš Chvála, Michal Minárik, Martin Donoval, Martin Jagelka, Daniel Donoval Záhlavie-meno Kozárik, Jozef, 1993- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Marek, Juraj, 1983- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Chvála, Aleš, 1981- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Minárik, Michal, 1995- Z3 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Donoval, Martin, 1983- Z7 (Autor) - FEI Stredisko pre projekty a spoluprácu s praxou Jagelka, Martin, 1989- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Donoval, Daniel, 1953- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In ADEPT 2020 [192 s.] / International conference on Advances in electronic and photonic technologies (Adept 2020). -- Žilina : Vydavateľstvo EDIS, 2020. -- ISBN 978-80-554-1735-6. -- S. 111-114 Predmet.heslá GaN HEMT dynamic on-resistance double-pulse test on-die testing Jazyk dok. angličtina Druh dok. RZB - článok zo zborníka Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Kategória od 2022 V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Rok 2020 
článok
Počet záznamov: 1