Počet záznamov: 1  

Charakterizácia polovodičových štruktúr pre vertikálne GaN tranzistory metódami SEM

  1. Údaje o názveCharakterizácia polovodičových štruktúr pre vertikálne GaN tranzistory metódami SEM / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, František Uherek, Daniel Haško, Peter Šichman, Stanislav Hasenöhrl, Ján Kuzmík
    Záhlavie-meno Priesol, Juraj, 1986- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Ďal.zodpovednosť Šatka, Alexander, 1960- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Uherek, František, 1954- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Haško, Daniel, 1975- Z5 (Autor)
    Šichman, Peter (Autor)
    Hasenöhrl, Stanislav Z5 (Autor)
    Kuzmík, Ján (Autor)
    Prekl.názCharacterization of semiconductor structures for vertical GaN transistors by SEM methods
    In Fotonika 2020 [34 s.] / Výročný vedecký seminár Medzinárodného laserového centra (FOTONIKA 2020). -- Bratislava : Medzinárodné laserové centrum, 2020. -- ISBN 978-80-972238-9-2. -- S. 11-14
    Predmet.heslá vertikálny GaN tranzistor
    rastrovacia elektrónová mikroskopia
    katódoluminiscencia
    Jazyk dok.slovenčina
    Druh dok.RZB - článok zo zborníka
    KategóriaAFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách
    Rok2020
    článok

    článok

Počet záznamov: 1