Počet záznamov: 1
Charakterizácia polovodičových štruktúr pre vertikálne GaN tranzistory metódami SEM
Údaje o názve Charakterizácia polovodičových štruktúr pre vertikálne GaN tranzistory metódami SEM / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, František Uherek, Daniel Haško, Peter Šichman, Stanislav Hasenöhrl, Ján Kuzmík Záhlavie-meno Priesol, Juraj, 1986- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Šatka, Alexander, 1960- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Uherek, František, 1954- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Haško, Daniel, 1975- Z5 (Autor) Šichman, Peter (Autor) Hasenöhrl, Stanislav Z5 (Autor) Kuzmík, Ján (Autor) Prekl.náz Characterization of semiconductor structures for vertical GaN transistors by SEM methods In Fotonika 2020 [34 s.] / Výročný vedecký seminár Medzinárodného laserového centra (FOTONIKA 2020). -- Bratislava : Medzinárodné laserové centrum, 2020. -- ISBN 978-80-972238-9-2. -- S. 11-14 Predmet.heslá vertikálny GaN tranzistor rastrovacia elektrónová mikroskopia katódoluminiscencia Jazyk dok. slovenčina Druh dok. RZB - článok zo zborníka Kategória AFD - Publikované príspevky na domácich vedeckých konferenciách Kategória od 2022 V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Rok 2020 
článok
Počet záznamov: 1