Počet záznamov: 1
Degradation of 600V GaN HEMTs under repetitive short circuit conditions
Údaje o názve Degradation of 600V GaN HEMTs under repetitive short circuit conditions / aut. Jozef Kozárik, Juraj Marek, Michal Minárik, Aleš Chvála, Tomáš Debnár, Martin Donoval, Ľubica Stuchlíková Záhlavie-meno Kozárik, Jozef, 1993- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Marek, Juraj, 1983- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Minárik, Michal, 1995- Z3 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Chvála, Aleš, 1981- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Debnár, Tomáš, 1993- Z3 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Donoval, Martin, 1983- Z7 (Autor) - FEI Stredisko pre projekty a spoluprácu s praxou Stuchlíková, Ľubica, 1967- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In ISPS '21 [150 s.] / International Seminar on Power Semiconductors ISPS’21. -- Prague : Czech Technical University in Prague, 2021. -- ISBN 978-80-01-06874-8. -- S. 76-81 Predmet.heslá GaN HEMT repetitive short circuit DLTS degradation Jazyk dok. angličtina Druh dok. RZB - článok zo zborníka Kategória AFC - Publikované príspevky na zahraničných vedeckých konferenciách Kategória od 2022 V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka Rok 2021 
článok
Počet záznamov: 1