- Investigation of EBIC line profiles at the p-n junction by numerical …
Počet záznamov: 1  

Investigation of EBIC line profiles at the p-n junction by numerical simulations using Monte Carlo method

  1. Údaje o názveInvestigation of EBIC line profiles at the p-n junction by numerical simulations using Monte Carlo method / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Karen Geens
    Záhlavie-meno Priesol, Juraj, 1986- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Ďal.zodpovednosť Šatka, Alexander, 1960- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
    Geens, Karen (Autor)
    In SURFINT - SREN VII [79 s.] / Progress in applied surface, interface and thin film science. -- Bratislava : Comenius University, 2021. -- ISBN 978-80-223-5296-3. -- S. 49-50
    Jazyk dok.angličtina
    Druh dok.RZB - článok zo zborníka
    KategóriaAFH - Abstrakty príspevkov z domácich konferencií
    Kategória od 2022V2 - Vedecký výstup publikačnej činnosti ako časť editovanej knihy alebo zborníka
    Rok2021
    článok

    článok

Počet záznamov: 1  

  Tieto stránky využívajú súbory cookies, ktoré uľahčujú ich prezeranie. Ďalšie informácie o tom ako používame cookies.