Raman spectroscopy of silicon with nanostructured surface

Počet záznamov: 1

Údaje o názve	Raman spectroscopy of silicon with nanostructured surface / aut. Magdaléna Kadlečíková, Ľubomír Vančo, Juraj Breza, Miroslav Mikolášek, Kristína Hušeková, Karol Fröhlich, Paul Procel, Miro Zeman, Olindo Isabella
Záhlavie-meno	Kadlečíková, Magdaléna, 1956- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
Ďal.zodpovednosť	Vančo, Ľubomír, 1983- Z2 (Autor) - MTF Centrum pre nanodiagnostiku materiálov
	Breza, Juraj, 1951- Z8 (Autor) - FEI Podpora realizácie výsledkov VVČ
	Mikolášek, Miroslav, 1983- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky
	Hušeková, Kristína (Autor)
	Fröhlich, Karol 1954- (Autor)
	Procel, Paul (Autor)
	Zeman, Miro (Autor)
	Isabella, Olindo (Autor)
Poznámky	A+
In	Optik. -- ISSN 0030-4026. -- Vol. 257, (2022), Art. no. 168869 [11] s.
Predmet.heslá	black silicon
	Nanolayer RuO2-IrO2
	SERS
Jazyk dok.	angličtina
URL	https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S0030402622002625
Druh dok.	RBX - článok z periodika
Kategória	ADC - Vedecké práce v zahraničných karentovaných časopisoch
Kategória od 2022	V3 - Vedecký výstup publikačnej činnosti z časopisu
Typ výstupu	článok
V databázach
Rok	2022

článok

citace PRO

Počet záznamov: 1