Počet záznamov: 1
EBIC analysis of semi-insulating GaN/Si-doped GaN-on-GaN test structures for vertical GaN transistors
Údaje o názve EBIC analysis of semi-insulating GaN/Si-doped GaN-on-GaN test structures for vertical GaN transistors / aut. Juraj Priesol, Alexander Šatka, Aleš Chvála, Peter Šichman, Stanislav Hasenöhrl, Ján Kuzmík, František Uherek Záhlavie-meno Priesol, Juraj, 1986- (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Ďal.zodpovednosť Šatka, Alexander, 1960- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Chvála, Aleš, 1981- Z2 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky Šichman, Peter (Autor) Hasenöhrl, Stanislav Z5 (Autor) Kuzmík, Ján (Autor) Uherek, František, 1954- Z1 (Autor) - FEI Ústav elektroniky a fotoniky In WOCSDICE‐EXMATEC 2022 / Workshop on Compound Semiconductor Devices and Integrated Circuits held in Europe. -- Aveiro : Universidade di Aveiro, 2022. -- S. OP 94-95 Jazyk dok. angličtina Druh dok. RZB - článok zo zborníka Kategória BEE - 13/Odborné práce v zahraničných zborníkoch (konferenčných aj nekonferenčných); 12/(len nerecenzované) Kategória od 2022 O2 - Odborný výstup publikačnej činnosti ako časť knižnej publikácie alebo zborníka Typ výstupu príspevok z podujatia Rok 2022 
článok
Počet záznamov: 1